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一种芯片功能测试系统和方法

被引：0
申请号：
CN202111629138.4
申请日：
2021-12-28
公开(公告)号：
CN114325323A
公开(公告)日：
2022-04-12
发明(设计)人：
吴忠秉 王小龙 姚尧 虞亚君 邵春伟
申请人：
申请人地址：
214135 江苏省无锡市新吴区菱湖大道202号
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
代理机构：
无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104
代理人：
刘品超;殷红梅
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-04-12 公开 公开
2022-04-29 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20211228
共 50 条
[1]
一种用于测试芯片的测试系统和芯片测试方法 [P]. 
庞翔 .
中国专利 :CN120214542A ,2025-06-27
[2]
一种芯片测试系统和测试方法 [P]. 
关达 ;
宦承永 ;
李宪全 ;
陈灏 ;
孔凡猛 ;
舒柏钦 .
中国专利 :CN119827948A ,2025-04-15
[3]
一种下压芯片装置和芯片测试系统 [P]. 
肖鸿鑫 ;
李安平 ;
陈杰夫 ;
杨泽坤 .
中国专利 :CN120779072A ,2025-10-14
[4]
芯片测试方法、测试电路及测试系统 [P]. 
徐炯 ;
何文龙 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN117723936A ,2024-03-19
[5]
一种芯片测试方法及芯片测试模块 [P]. 
孔欣 .
中国专利 :CN108535630A ,2018-09-14
[6]
芯片功能测试系统与芯片 [P]. 
陆亚军 ;
盛怀亮 .
中国专利 :CN120103107A ,2025-06-06
[7]
一种芯片测试系统和方法 [P]. 
柯小青 ;
季翔宇 ;
任殿升 ;
关皓伟 ;
周大锋 .
中国专利 :CN114325355B ,2024-08-27
[8]
一种芯片测试系统和方法 [P]. 
柯小青 ;
季翔宇 ;
任殿升 ;
关皓伟 ;
周大锋 .
中国专利 :CN114325355A ,2022-04-12
[9]
一种芯片测试系统以及测试方法 [P]. 
倪黄忠 ;
俞文全 ;
李华星 .
中国专利 :CN115440293B ,2025-11-28
[10]
一种芯片测试系统以及测试方法 [P]. 
倪黄忠 ;
俞文全 ;
李华星 .
中国专利 :CN115440293A ,2022-12-06
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