一种下压芯片装置和芯片测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511001206.0

申请日：

2025-07-18

公开(公告)号：

CN120779072A

公开(公告)日：

2025-10-14

发明(设计)人：

肖鸿鑫李安平陈杰夫杨泽坤

申请人：

深圳米飞泰克科技股份有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市龙岗区宝龙街道清风大道28号安博科技厂区1号厂房1、5、6层

IPC主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R31/28

代理机构：

深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414

代理人：

侯玉梅

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-31	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 1/04申请日:20250718
2025-10-14	公开	公开

共 50 条

[1]

一种用于测试芯片的测试系统和芯片测试方法 [P].

庞翔 .

中国专利 :CN120214542A ,2025-06-27

[2]

一种芯片功能测试系统和方法 [P].

吴忠秉 ;

王小龙 ;

姚尧 ;

虞亚君 ;

邵春伟 .

中国专利 :CN114325323A ,2022-04-12

[3]

一种芯片测试系统和测试方法 [P].

关达 ;

宦承永 ;

李宪全 ;

陈灏 ;

孔凡猛 ;

舒柏钦 .

中国专利 :CN119827948A ,2025-04-15

[4]

一种芯片测试转接设备和芯片测试系统 [P].

于福振 ;

黄征 ;

张文丽 ;

孙铁 ;

杨姣 ;

黄新东 ;

请求不公布姓名 ;

张飞飞 ;

张亮 .

中国专利 :CN221303390U ,2024-07-09

[5]

一种芯片测试系统 [P].

肖毅 ;

钟汝军 ;

苑鹏 .

中国专利 :CN217766718U ,2022-11-08

[6]

芯片测试座、芯片测试装置和芯片测试系统 [P].

徐永刚 ;

彭瑞 ;

童炜 ;

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 .

中国专利 :CN117517732A ,2024-02-06

[7]

一种芯片测试装置及芯片测试系统 [P].

赵山 ;

黄建军 ;

吴永红 ;

陈建丛 ;

孙钦华 .

中国专利 :CN222353963U ,2025-01-14

[8]

芯片测试系统、测试方法、芯片的测试响应方法和芯片 [P].

刘凯 .

中国专利 :CN111929562A ,2020-11-13

[9]

芯片测试装置和芯片测试系统 [P].

徐永刚 ;

彭瑞 ;

童炜 ;

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 .

中国专利 :CN117420421A ,2024-01-19

[10]

芯片测试连接装置和芯片测试系统 [P].

陆玉斌 .

中国专利 :CN110895305A ,2020-03-20

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