芯片测试连接装置和芯片测试系统

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201811069678.X
申请日
2018-09-13
公开(公告)号
CN110895305A
公开(公告)日
2020-03-20
发明(设计)人
陆玉斌
申请人
申请人地址
230000 安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
北京律智知识产权代理有限公司 11438
代理人
袁礼君;阚梓瑄
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
芯片测试连接装置和芯片测试系统 [P]. 
陆玉斌 .
中国专利 :CN208833884U ,2019-05-07
[2]
芯片测试基板和芯片测试系统 [P]. 
张明云 .
中国专利 :CN113671351A ,2021-11-19
[3]
芯片测试电路和芯片测试系统 [P]. 
孙成思 ;
孙日欣 ;
刘冲 .
中国专利 :CN215678636U ,2022-01-28
[4]
芯片测试板、芯片测试装置和测试系统 [P]. 
王丽荣 ;
李华星 ;
胡晓辉 .
中国专利 :CN223552255U ,2025-11-14
[5]
芯片测试座、芯片测试装置和芯片测试系统 [P]. 
徐永刚 ;
彭瑞 ;
童炜 ;
孙成思 ;
何瀚 ;
王灿 .
中国专利 :CN117517732A ,2024-02-06
[6]
芯片测试装置和芯片测试系统 [P]. 
徐永刚 ;
彭瑞 ;
童炜 ;
孙成思 ;
何瀚 ;
王灿 .
中国专利 :CN117420421A ,2024-01-19
[7]
芯片测试系统 [P]. 
杜福建 .
中国专利 :CN117907794A ,2024-04-19
[8]
芯片测试组件、芯片测试系统和芯片测试方法 [P]. 
林楷辉 ;
倪建兴 .
中国专利 :CN112834909A ,2021-05-25
[9]
芯片的通用测试装置和芯片测试系统 [P]. 
张焱 ;
温江波 ;
陈建宇 ;
曹生斌 ;
曹志 ;
马程 ;
闫斌 ;
张海麟 .
中国专利 :CN119028418A ,2024-11-26
[10]
芯片测试系统和芯片测试方法 [P]. 
黄鑫 ;
游明琦 .
中国专利 :CN1928576A ,2007-03-14