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芯片测试连接装置和芯片测试系统
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201811069678.X
申请日
:
2018-09-13
公开(公告)号
:
CN110895305A
公开(公告)日
:
2020-03-20
发明(设计)人
:
陆玉斌
申请人
:
申请人地址
:
230000 安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
代理机构
:
北京律智知识产权代理有限公司 11438
代理人
:
袁礼君;阚梓瑄
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-04-14
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20180913
2020-03-20
公开
公开
共 50 条
[1]
芯片测试连接装置和芯片测试系统
[P].
陆玉斌
论文数:
0
引用数:
0
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0
陆玉斌
.
中国专利
:CN208833884U
,2019-05-07
[2]
芯片测试基板和芯片测试系统
[P].
张明云
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张明云
.
中国专利
:CN113671351A
,2021-11-19
[3]
芯片测试电路和芯片测试系统
[P].
孙成思
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孙成思
;
孙日欣
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孙日欣
;
刘冲
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刘冲
.
中国专利
:CN215678636U
,2022-01-28
[4]
芯片测试板、芯片测试装置和测试系统
[P].
王丽荣
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机构:
深圳市时创意电子股份有限公司
深圳市时创意电子股份有限公司
王丽荣
;
李华星
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机构:
深圳市时创意电子股份有限公司
深圳市时创意电子股份有限公司
李华星
;
胡晓辉
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机构:
深圳市时创意电子股份有限公司
深圳市时创意电子股份有限公司
胡晓辉
.
中国专利
:CN223552255U
,2025-11-14
[5]
芯片测试座、芯片测试装置和芯片测试系统
[P].
徐永刚
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机构:
成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
徐永刚
;
彭瑞
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成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
彭瑞
;
童炜
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机构:
成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
童炜
;
孙成思
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成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
孙成思
;
何瀚
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成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
何瀚
;
王灿
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成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
王灿
.
中国专利
:CN117517732A
,2024-02-06
[6]
芯片测试装置和芯片测试系统
[P].
徐永刚
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机构:
成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
徐永刚
;
彭瑞
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成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
彭瑞
;
童炜
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成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
童炜
;
孙成思
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成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
孙成思
;
何瀚
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成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
何瀚
;
王灿
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机构:
成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
王灿
.
中国专利
:CN117420421A
,2024-01-19
[7]
芯片测试系统
[P].
杜福建
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机构:
上海芯联芯智能科技有限公司
上海芯联芯智能科技有限公司
杜福建
.
中国专利
:CN117907794A
,2024-04-19
[8]
芯片测试组件、芯片测试系统和芯片测试方法
[P].
林楷辉
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林楷辉
;
倪建兴
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倪建兴
.
中国专利
:CN112834909A
,2021-05-25
[9]
芯片的通用测试装置和芯片测试系统
[P].
张焱
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机构:
上海贝岭股份有限公司
上海贝岭股份有限公司
张焱
;
温江波
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机构:
上海贝岭股份有限公司
上海贝岭股份有限公司
温江波
;
陈建宇
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机构:
上海贝岭股份有限公司
上海贝岭股份有限公司
陈建宇
;
曹生斌
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机构:
上海贝岭股份有限公司
上海贝岭股份有限公司
曹生斌
;
曹志
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机构:
上海贝岭股份有限公司
上海贝岭股份有限公司
曹志
;
马程
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机构:
上海贝岭股份有限公司
上海贝岭股份有限公司
马程
;
闫斌
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机构:
上海贝岭股份有限公司
上海贝岭股份有限公司
闫斌
;
张海麟
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机构:
上海贝岭股份有限公司
上海贝岭股份有限公司
张海麟
.
中国专利
:CN119028418A
,2024-11-26
[10]
芯片测试系统和芯片测试方法
[P].
黄鑫
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黄鑫
;
游明琦
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游明琦
.
中国专利
:CN1928576A
,2007-03-14
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