一种芯片测试系统

被引：0

申请号：

CN202221176547.3

申请日：

2022-05-16

公开(公告)号：

CN217766718U

公开(公告)日：

2022-11-08

发明(设计)人：

肖毅钟汝军苑鹏

申请人：

申请人地址：

519000 广东省珠海市高新区唐家湾镇科技二路9号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205

代理人：

陈嘉乐

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-11-08	授权	授权

共 50 条

[1]

芯片测试机及芯片测试系统 [P].

王晓斌 ;

马彦斌 ;

李鑫 ;

王亮 ;

朱旋虎 .

中国专利 :CN220603633U ,2024-03-15

[2]

一种芯片测试板及芯片测试系统 [P].

霍微伟 ;

王刚 ;

李长新 ;

萨斌 .

中国专利 :CN207851236U ,2018-09-11

[3]

一种芯片测试系统 [P].

许晓旋 ;

李承翰 ;

李斌 .

中国专利 :CN221861276U ,2024-10-18

[4]

一种芯片测试温度控制系统及芯片测试系统 [P].

李功波 ;

唐朋朋 ;

张鸿 ;

陈玉龙 ;

张攀勇 .

中国专利 :CN215297585U ,2021-12-24

[5]

芯片测试系统 [P].

马茂松 ;

林峰 ;

许小峰 .

中国专利 :CN210835151U ,2020-06-23

[6]

一种芯片测试设备及芯片测试系统 [P].

吴永红 ;

黄建军 ;

赵山 ;

陈建丛 ;

孙钦华 .

中国专利 :CN222354016U ,2025-01-14

[7]

一种芯片测试模块及芯片测试系统 [P].

赵仕斌 ;

钟兴和 ;

喻梦婷 .

中国专利 :CN215641645U ,2022-01-25

[8]

一种下压芯片装置和芯片测试系统 [P].

肖鸿鑫 ;

李安平 ;

陈杰夫 ;

杨泽坤 .

中国专利 :CN120779072A ,2025-10-14

[9]

一种芯片测试系统 [P].

成利宁 ;

赵同伟 .

中国专利 :CN209044018U ,2019-06-28

[10]

一种芯片测试系统 [P].

冀争锋 ;

肖霈 .

中国专利 :CN220795403U ,2024-04-16

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