一种芯片测试温度控制系统及芯片测试系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202121713568.X

申请日：

2021-07-26

公开(公告)号：

CN215297585U

公开(公告)日：

2021-12-24

发明(设计)人：

李功波唐朋朋张鸿陈玉龙张攀勇

申请人：

申请人地址：

300384 天津市南开区华苑产业区海泰西路18号北2-204工业孵化-3-8

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G05B1142 G05B1304 G05D2319

代理机构：

北京兰亭信通知识产权代理有限公司 11667

代理人：

赵永刚

法律状态：

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国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-12-24	授权	授权

共 50 条

[1]

一种芯片测试温度控制系统及其控制方法、测试系统 [P].

李功波 ;

唐朋朋 ;

张鸿 ;

陈玉龙 ;

张攀勇 .

中国专利 :CN113567837A ,2021-10-29

[2]

芯片测试机及芯片测试系统 [P].

王晓斌 ;

马彦斌 ;

李鑫 ;

王亮 ;

朱旋虎 .

中国专利 :CN220603633U ,2024-03-15

[3]

芯片测试夹具及芯片测试系统 [P].

高琳 ;

王永康 ;

丁庆 .

中国专利 :CN205861729U ,2017-01-04

[4]

一种芯片测试设备及芯片测试系统 [P].

吴永红 ;

黄建军 ;

赵山 ;

陈建丛 ;

孙钦华 .

中国专利 :CN222354016U ,2025-01-14

[5]

一种芯片测试模块及芯片测试系统 [P].

赵仕斌 ;

钟兴和 ;

喻梦婷 .

中国专利 :CN215641645U ,2022-01-25

[6]

一种芯片测试板及芯片测试系统 [P].

霍微伟 ;

王刚 ;

李长新 ;

萨斌 .

中国专利 :CN207851236U ,2018-09-11

[7]

芯片测试系统 [P].

马茂松 ;

林峰 ;

许小峰 .

中国专利 :CN210835151U ,2020-06-23

[8]

芯片测试系统和芯片测试系统的控制方法 [P].

田健飞 ;

王远 ;

唐平 .

中国专利 :CN114518524A ,2022-05-20

[9]

芯片测试系统和芯片测试系统的控制方法 [P].

田健飞 ;

王远 ;

唐平 .

中国专利 :CN114518524B ,2025-07-08

[10]

芯片测试温度控制方法、控制系统、温控板卡及测试系统 [P].

桂晓峰 ;

徐宏思 ;

辅俊海 .

中国专利 :CN112485645A ,2021-03-12

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