一种芯片测试系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202420505234.0

申请日：

2024-03-14

公开(公告)号：

CN221861276U

公开(公告)日：

2024-10-18

发明(设计)人：

许晓旋李承翰李斌

申请人：

深圳市宏旺微电子有限公司

申请人地址：

518100 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区白石路3609号深圳湾科技生态园二区9栋B2306

IPC主分类号：

G11C29/56

IPC分类号：

代理机构：

深圳市倡创专利代理事务所(普通合伙) 44660

代理人：

罗明玉

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-10-18	授权	授权

共 50 条

[1]

芯片测试机及芯片测试系统 [P].

王晓斌 ;

马彦斌 ;

李鑫 ;

王亮 ;

朱旋虎 .

中国专利 :CN220603633U ,2024-03-15

[2]

一种芯片测试系统 [P].

肖毅 ;

钟汝军 ;

苑鹏 .

中国专利 :CN217766718U ,2022-11-08

[3]

一种芯片测试系统以及测试方法 [P].

倪黄忠 ;

俞文全 ;

李华星 .

中国专利 :CN115440293B ,2025-11-28

[4]

一种芯片测试系统以及测试方法 [P].

倪黄忠 ;

俞文全 ;

李华星 .

中国专利 :CN115440293A ,2022-12-06

[5]

芯片测试电路和芯片测试系统 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

刘冲 .

中国专利 :CN215678636U ,2022-01-28

[6]

芯片测试系统 [P].

阚博涵 ;

杨真 ;

彭燕鸿 .

中国专利 :CN212180962U ,2020-12-18

[7]

一种芯片测试设备及芯片测试系统 [P].

吴永红 ;

黄建军 ;

赵山 ;

陈建丛 ;

孙钦华 .

中国专利 :CN222354016U ,2025-01-14

[8]

一种芯片测试模块及芯片测试系统 [P].

赵仕斌 ;

钟兴和 ;

喻梦婷 .

中国专利 :CN215641645U ,2022-01-25

[9]

一种芯片测试板及芯片测试系统 [P].

霍微伟 ;

王刚 ;

李长新 ;

萨斌 .

中国专利 :CN207851236U ,2018-09-11

[10]

芯片测试系统及芯片测试装置 [P].

焦继业 ;

刘俊波 ;

李辉 ;

王暾烜 .

中国专利 :CN217766725U ,2022-11-08

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