一种石英晶片检测台

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202022384732.9
申请日
2020-10-23
公开(公告)号
CN214041171U
公开(公告)日
2021-08-24
发明(设计)人
许开港
申请人
申请人地址
222000 江苏省连云港市东海县牛山镇汤庄村245省道南侧88号
IPC主分类号
G01N2184
IPC分类号
G01N2101
代理机构
连云港慧源知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32363
代理人
赵自强
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
石英晶片检测台 [P]. 
朱正义 ;
王丽英 ;
杜刚 ;
夏金鑫 .
中国专利 :CN202512065U ,2012-10-31
[2]
一种石英晶片检测装置 [P]. 
梁万丰 ;
肖华 ;
肖林 .
中国专利 :CN210321786U ,2020-04-14
[3]
一种石英晶片检测装置 [P]. 
李杰 ;
陈敏 .
中国专利 :CN117849062A ,2024-04-09
[4]
一种石英晶片检测装置 [P]. 
李杰 ;
陈敏 .
中国专利 :CN117849062B ,2024-09-10
[5]
一种石英晶片检测装置 [P]. 
刘文越 ;
葛四合 ;
邓天将 .
中国专利 :CN208979783U ,2019-06-14
[6]
新型晶片检测台 [P]. 
周朱华 ;
王祖勇 .
中国专利 :CN207964673U ,2018-10-12
[7]
一种抛光石英晶片浅划痕检测装置 [P]. 
朱雪明 ;
王熙博 .
中国专利 :CN215449045U ,2022-01-07
[8]
一种抛光石英晶片浅划痕检测装置 [P]. 
夏良军 ;
刘超 .
中国专利 :CN223611369U ,2025-11-28
[9]
一种石英晶片反切机器 [P]. 
汤海燕 ;
丁洁 .
中国专利 :CN206780700U ,2017-12-22
[10]
一种石英晶片抛光装置 [P]. 
李直荣 .
中国专利 :CN210046503U ,2020-02-11