石英晶片检测台

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201120422677.6

申请日：

2011-10-31

公开(公告)号：

CN202512065U

公开(公告)日：

2012-10-31

发明(设计)人：

朱正义王丽英杜刚夏金鑫

申请人：

申请人地址：

244000 安徽省铜陵市经济技术开发区铜峰工业园

IPC主分类号：

G01N2188

IPC分类号：

代理机构：

安徽汇朴律师事务所 34116

代理人：

胡敏

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-12-23	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101638683236 IPC(主分类):G01N 21/88 专利号:ZL2011204226776 申请日:20111031 授权公告日:20121031 终止日期:20141031
2012-10-31	授权	授权

共 50 条

[1]

一种石英晶片检测台 [P].

许开港 .

中国专利 :CN214041171U ,2021-08-24

[2]

石英晶片 [P].

赵积清 ;

庄重 ;

刘国强 ;

金奇 .

中国专利 :CN201224780Y ,2009-04-22

[3]

新型晶片检测台 [P].

周朱华 ;

王祖勇 .

中国专利 :CN207964673U ,2018-10-12

[4]

石英晶片外观缺陷检测装置 [P].

陈康 ;

徐兴华 ;

伊利平 ;

鲍旭伟 .

中国专利 :CN217278083U ,2022-08-23

[5]

一种石英晶片检测装置 [P].

梁万丰 ;

肖华 ;

肖林 .

中国专利 :CN210321786U ,2020-04-14

[6]

一种石英晶片检测装置 [P].

李杰 ;

陈敏 .

中国专利 :CN117849062A ,2024-04-09

[7]

一种石英晶片检测装置 [P].

李杰 ;

陈敏 .

中国专利 :CN117849062B ,2024-09-10

[8]

一种石英晶片检测装置 [P].

刘文越 ;

葛四合 ;

邓天将 .

中国专利 :CN208979783U ,2019-06-14

[9]

一种抛光石英晶片浅划痕检测装置 [P].

夏良军 ;

刘超 .

中国专利 :CN223611369U ,2025-11-28

[10]

小型石英晶片及石英晶体 [P].

许玉清 ;

喻信东 .

中国专利 :CN202364187U ,2012-08-01

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