高介电常数金属栅MOS晶体管及其制造方法

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申请号
CN202110226519.1
申请日
2021-03-01
公开(公告)号
CN115000170A
公开(公告)日
2022-09-02
发明(设计)人
李勇
申请人
申请人地址
201203 上海市浦东新区康桥东路298号1幢1060室
IPC主分类号
H01L2978
IPC分类号
H01L2906 H01L29423 H01L21336
代理机构
上海浦一知识产权代理有限公司 31211
代理人
郭四华
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
高介电常数金属栅MOS晶体管及其制造方法 [P]. 
李勇 .
中国专利 :CN113644050A ,2021-11-12
[2]
高介电常数金属栅MOS晶体管及其制造方法 [P]. 
李勇 .
中国专利 :CN113644050B ,2024-06-11
[3]
高介电常数金属栅MOS晶体管及其制造方法 [P]. 
李勇 .
中国专利 :CN113644051A ,2021-11-12
[4]
高介电常数金属栅MOS晶体管及其制造方法 [P]. 
李勇 .
中国专利 :CN113644134A ,2021-11-12
[5]
高介电常数金属栅MOS晶体管及其制造方法 [P]. 
李勇 .
中国专利 :CN113644051B ,2024-06-11
[6]
高介电常数金属栅MOS晶体管及其制造方法 [P]. 
李勇 .
中国专利 :CN113644134B ,2024-10-25
[7]
高介电常数金属栅MOS晶体管 [P]. 
魏程昶 ;
苏炳熏 ;
何德彪 ;
吴方锐 .
中国专利 :CN114823893A ,2022-07-29
[8]
高介电常数金属栅MOS晶体管的制造方法 [P]. 
李勇 .
中国专利 :CN112420502A ,2021-02-26
[9]
高介电常数金属栅及其制造方法 [P]. 
王诗昊 .
中国专利 :CN115483278A ,2022-12-16
[10]
高介电常数栅介质层的柔性薄膜晶体管及其制造方法 [P]. 
秦国轩 ;
裴智慧 .
中国专利 :CN109698241A ,2019-04-30