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高介电常数金属栅MOS晶体管及其制造方法
被引:0
申请号
:
CN202110226519.1
申请日
:
2021-03-01
公开(公告)号
:
CN115000170A
公开(公告)日
:
2022-09-02
发明(设计)人
:
李勇
申请人
:
申请人地址
:
201203 上海市浦东新区康桥东路298号1幢1060室
IPC主分类号
:
H01L2978
IPC分类号
:
H01L2906
H01L29423
H01L21336
代理机构
:
上海浦一知识产权代理有限公司 31211
代理人
:
郭四华
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-09-02
公开
公开
共 50 条
[1]
高介电常数金属栅MOS晶体管及其制造方法
[P].
李勇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李勇
.
中国专利
:CN113644050A
,2021-11-12
[2]
高介电常数金属栅MOS晶体管及其制造方法
[P].
李勇
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海华力集成电路制造有限公司
上海华力集成电路制造有限公司
李勇
.
中国专利
:CN113644050B
,2024-06-11
[3]
高介电常数金属栅MOS晶体管及其制造方法
[P].
李勇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李勇
.
中国专利
:CN113644051A
,2021-11-12
[4]
高介电常数金属栅MOS晶体管及其制造方法
[P].
李勇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李勇
.
中国专利
:CN113644134A
,2021-11-12
[5]
高介电常数金属栅MOS晶体管及其制造方法
[P].
李勇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海华力集成电路制造有限公司
上海华力集成电路制造有限公司
李勇
.
中国专利
:CN113644051B
,2024-06-11
[6]
高介电常数金属栅MOS晶体管及其制造方法
[P].
李勇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海华力集成电路制造有限公司
上海华力集成电路制造有限公司
李勇
.
中国专利
:CN113644134B
,2024-10-25
[7]
高介电常数金属栅MOS晶体管
[P].
魏程昶
论文数:
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0
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魏程昶
;
苏炳熏
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苏炳熏
;
何德彪
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何德彪
;
吴方锐
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0
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0
吴方锐
.
中国专利
:CN114823893A
,2022-07-29
[8]
高介电常数金属栅MOS晶体管的制造方法
[P].
李勇
论文数:
0
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0
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0
李勇
.
中国专利
:CN112420502A
,2021-02-26
[9]
高介电常数金属栅及其制造方法
[P].
王诗昊
论文数:
0
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0
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0
王诗昊
.
中国专利
:CN115483278A
,2022-12-16
[10]
高介电常数栅介质层的柔性薄膜晶体管及其制造方法
[P].
秦国轩
论文数:
0
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秦国轩
;
裴智慧
论文数:
0
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0
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裴智慧
.
中国专利
:CN109698241A
,2019-04-30
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