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表面分析装置

被引：0
申请号：
CN202111268439.9
申请日：
2021-10-29
公开(公告)号：
CN114544687A
公开(公告)日：
2022-05-27
发明(设计)人：
大越晓
申请人：
申请人地址：
日本京都府
IPC主分类号：
G01N232252
IPC分类号：
G01N232251 G01N23223
代理机构：
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277
代理人：
刘新宇
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-06-14 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/2252 申请日:20211029
2022-05-27 公开 公开
共 50 条
[1]
表面分析方法及表面分析装置 [P]. 
古桥治 .
日本专利 :CN118318168A ,2024-07-09
[2]
表面分析方法及表面分析装置 [P]. 
水村通伸 .
中国专利 :CN114846318A ,2022-08-02
[3]
表面分析方法及表面分析装置 [P]. 
水村通伸 .
日本专利 :CN114846318B ,2025-04-04
[4]
表面分析方法、表面分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP7365047B2 ,2023-10-19
[5]
表面分析装置 [P]. 
石川丈宽 .
中国专利 :CN114839213A ,2022-08-02
[6]
表面分析装置 [P]. 
平出雅人 .
中国专利 :CN113740563A ,2021-12-03
[7]
表面分析装置 [P]. 
平出雅人 .
日本专利 :CN113740563B ,2024-03-26
[8]
表面分析装置 [P]. 
大越晓 ;
石川丈宽 .
中国专利 :CN114609171A ,2022-06-10
[9]
表面分析装置 [P]. 
大越晓 ;
石川丈宽 .
日本专利 :CN114609171B ,2025-07-25
[10]
表面分析装置 [P]. 
藤野敬太 .
中国专利 :CN111796122A ,2020-10-20
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