表面分析方法及表面分析装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202080089473.7
申请日
2020-12-14
公开(公告)号
CN114846318B
公开(公告)日
2025-04-04
发明(设计)人
水村通伸
申请人
株式会社V技术
申请人地址
日本神奈川县横滨市
IPC主分类号
G01N21/27
IPC分类号
G01N21/956
代理机构
北京品源专利代理有限公司 11332
代理人
吕琳;朴秀玉
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
表面分析方法及表面分析装置 [P]. 
水村通伸 .
中国专利 :CN114846318A ,2022-08-02
[2]
表面分析方法及表面分析装置 [P]. 
古桥治 .
日本专利 :CN118318168A ,2024-07-09
[3]
表面分析方法、表面分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP7365047B2 ,2023-10-19
[4]
表面分析装置および表面分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7126928B2 ,2022-08-29
[5]
表面分析装置 [P]. 
石川丈宽 .
中国专利 :CN114839213A ,2022-08-02
[6]
表面分析装置 [P]. 
大越晓 .
中国专利 :CN114544687A ,2022-05-27
[7]
表面分析装置 [P]. 
平出雅人 .
中国专利 :CN113740563A ,2021-12-03
[8]
表面分析装置 [P]. 
平出雅人 .
日本专利 :CN113740563B ,2024-03-26
[9]
表面分析装置 [P]. 
大越晓 ;
石川丈宽 .
中国专利 :CN114609171A ,2022-06-10
[10]
表面分析装置 [P]. 
大越晓 ;
石川丈宽 .
日本专利 :CN114609171B ,2025-07-25