表面分析装置および表面分析方法[ja]

被引:0
申请号
JP20180217466
申请日
2018-11-20
公开(公告)号
JP7126928B2
公开(公告)日
2022-08-29
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
G01N23/2276
IPC分类号
H01J37/22 H01J37/252
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[1]
表面分析方法、表面分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP7365047B2 ,2023-10-19
[2]
[3]
[4]
表面分析方法及表面分析装置 [P]. 
古桥治 .
日本专利 :CN118318168A ,2024-07-09
[5]
表面分析方法及表面分析装置 [P]. 
水村通伸 .
中国专利 :CN114846318A ,2022-08-02
[6]
表面分析方法及表面分析装置 [P]. 
水村通伸 .
日本专利 :CN114846318B ,2025-04-04
[9]
分析装置および分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2011001917A1 ,2012-12-13
[10]
分析装置および分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7608515B2 ,2025-01-06