晶片频率测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610266631.7

申请日：

2016-04-26

公开(公告)号：

CN105675120A

公开(公告)日：

2016-06-15

发明(设计)人：

陈仲涛彭胜春阳皓杨莉周哲许卫群唐平陈映梅刘春蓉王洁刘祖琴

申请人：

申请人地址：

400060 重庆市南岸区南坪花园路14号

IPC主分类号：

G01H1300

IPC分类号：

代理机构：

重庆信航知识产权代理有限公司 50218

代理人：

江涛

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-07-13	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101669695574 IPC(主分类):G01H 13/00 专利申请号:2016102666317 申请日:20160426
2016-06-15	公开	公开
2020-02-04	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01H 13/00 申请公布日:20160615

共 50 条

[1]

晶片频率测试装置 [P].

陈仲涛 ;

彭胜春 ;

阳皓 ;

杨莉 ;

周哲 ;

许卫群 ;

唐平 ;

陈映梅 ;

刘春蓉 ;

王洁 ;

刘祖琴 .

中国专利 :CN205580591U ,2016-09-14

[2]

晶片测试装置 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN208953661U ,2019-06-07

[3]

晶片测试装置 [P].

陈文杰 .

中国专利 :CN2444311Y ,2001-08-22

[4]

晶片测试装置 [P].

鲹坂偲文 .

日本专利 :CN120610144A ,2025-09-09

[5]

简易频率测试装置 [P].

王锡秋 ;

辛然 .

中国专利 :CN2685888Y ,2005-03-16

[6]

叶片频率测试装置 [P].

杨建刚 .

中国专利 :CN209979059U ,2020-01-21

[7]

晶片测试装置及测试方法 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN108957300A ,2018-12-07

[8]

记忆体晶片超频测试装置 [P].

洪康宁 .

中国专利 :CN210253175U ,2020-04-07

[9]

半导体晶片测试装置 [P].

清川敏之 ;

内藤隆 .

中国专利 :CN102301462A ,2011-12-28

[10]

晶片电性能测试装置 [P].

李晓佳 ;

王毅 .

中国专利 :CN207164176U ,2018-03-30

← 1 2 3 4 5 →