卡式内存芯片

被引：0

专利类型：

外观设计

申请号：

CN200930226520.4

申请日：

2009-09-16

公开(公告)号：

CN301235304S

公开(公告)日：

2010-05-26

发明(设计)人：

胡迪

申请人：

申请人地址：

200030 上海市斜土路2669号504室

IPC主分类号：

1499

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-10-29	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101588017763 主分类号:14-99 专利号:ZL2009302265204 申请日:20090916 授权公告日:20100526 终止日期:20130916
2010-05-26	授权	授权

共 50 条

[1]

内存芯片 [P].

杜盈德 .

中国专利 :CN118672960A ,2024-09-20

[2]

内存芯片缺陷处理方法以及内存芯片 [P].

章恒嘉 ;

丁丽 ;

王伟洲 ;

曾理 ;

肖红丽 ;

赖俊生 .

中国专利 :CN121096404A ,2025-12-09

[3]

混合内存芯片及包括混合内存芯片的内存系统、计算装置 [P].

夏濬 .

中国专利 :CN119446213A ,2025-02-14

[4]

基于内存芯片互连的内存访问处理方法、内存芯片及系统 [P].

黄永兵 ;

陈明宇 ;

阮元 ;

陈荔城 .

中国专利 :CN103902472B ,2014-07-02

[5]

内存芯片电路拓扑 [P].

王智彬 ;

王俊凯 .

中国专利 :CN108461108B ,2018-08-28

[6]

内存芯片堆栈构造 [P].

叶乃华 ;

彭镇滨 .

中国专利 :CN2543206Y ,2003-04-02

[7]

内存芯片的组装构造 [P].

陈汉平 .

中国专利 :CN2450783Y ,2001-09-26

[8]

内存芯片测试装置 [P].

陈晖 .

中国专利 :CN218240316U ,2023-01-06

[9]

内存芯片超频测试模块 [P].

洪康宁 .

中国专利 :CN209947446U ,2020-01-14

[10]

内存芯片自测试电路和内存芯片自测试方法 [P].

古城 ;

王晓阳 ;

何亚军 .

中国专利 :CN117524287B ,2024-03-22

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