检查装置和检查方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201680091308.9
申请日
2016-12-06
公开(公告)号
CN110036279B
公开(公告)日
2019-07-19
发明(设计)人
宫泽一之
申请人
申请人地址
日本东京都
IPC主分类号
G01N2188
IPC分类号
代理机构
北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人
孙明浩;崔成哲
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
检查装置和检查方法 [P]. 
片根忠弘 ;
袖山敦史 ;
桐生望 ;
津岛和纪 ;
品田勋 ;
日下隆浩 .
日本专利 :CN119546947A ,2025-02-28
[2]
检查装置和检查方法 [P]. 
杉山清隆 .
日本专利 :CN120659864A ,2025-09-16
[3]
检查装置和检查方法 [P]. 
小野健太郎 ;
山本泰秀 ;
森永国仁 ;
木本智幸 .
中国专利 :CN111435118A ,2020-07-21
[4]
检查装置和检查方法 [P]. 
冈田正明 .
中国专利 :CN107850556B ,2018-03-27
[5]
检查程序和检查装置 [P]. 
新井雅海 ;
河北薰 ;
平野龙一 .
日本专利 :CN121175557A ,2025-12-19
[6]
图像检查方法和图像检查装置 [P]. 
湊善久 ;
柳川由纪子 .
中国专利 :CN104053984A ,2014-09-17
[7]
图形检查装置和图形检查方法 [P]. 
黑田毅 .
中国专利 :CN103189893A ,2013-07-03
[8]
薄膜的检查装置和检查方法 [P]. 
坂井智嗣 ;
川添浩平 ;
山口贤刚 ;
高野晓巳 .
中国专利 :CN102165282B ,2011-08-24
[9]
检查装置和检查方法 [P]. 
金子正明 ;
中山均 ;
铃木英利 .
中国专利 :CN1576777A ,2005-02-09
[10]
检查装置和检查方法 [P]. 
小西显太朗 .
日本专利 :CN117981064A ,2024-05-03