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一种电路板高温老化测试箱
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202121705400.4
申请日：
2021-07-26
公开(公告)号：
CN215493973U
公开(公告)日：
2022-01-11
发明(设计)人：
王学义
王涛
申请人：
申请人地址：
300385 天津市西青区西青经济技术开发区赛达新兴产业园C座14层1407室
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
B01L100
B01L700
代理机构：
天津市尚仪知识产权代理事务所(普通合伙) 12217
代理人：
邓琳
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-01-11 | 授权 | 授权 |