一种应用于高低温测试系统的压力稳定装置

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专利类型
实用新型
申请号
CN202120300321.9
申请日
2021-02-02
公开(公告)号
CN214174930U
公开(公告)日
2021-09-10
发明(设计)人
但小平 谢锦
申请人
申请人地址
510000 广东省广州市南沙区东涌镇东涌昌利工业城昌盛路1号103
IPC主分类号
G05D1620
IPC分类号
代理机构
广州海石专利代理事务所(普通合伙) 44606
代理人
邵穗娟
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
用于光模块高低温测试的装置 [P]. 
邹行川 .
中国专利 :CN208805347U ,2019-04-30
[2]
一种应用于IC测试的高低温测试装置 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN106908711A ,2017-06-30
[3]
一种应用于IC测试的高低温测试方法 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN106908712B ,2017-06-30
[4]
一种用于测试设备高低温实验的装置 [P]. 
翟红涛 ;
张蓬勃 ;
王卫国 ;
刘晨卓 .
中国专利 :CN223413334U ,2025-10-03
[5]
用于光模块高低温测试的导流罩 [P]. 
邹行川 .
中国专利 :CN209055301U ,2019-07-02
[6]
一种雷达高低温测试系统 [P]. 
魏新朋 ;
石常鑫 .
中国专利 :CN210376669U ,2020-04-21
[7]
用于高低温测试的密封装置 [P]. 
单娜 ;
严黎明 .
中国专利 :CN222287340U ,2025-01-03
[8]
一种用于高低温测试机的测试设备 [P]. 
刘瑜 ;
陈磊 ;
王金阳 .
中国专利 :CN222438616U ,2025-02-07
[9]
一种采用高低温箱进行集成电路芯片的高低温测试装置 [P]. 
詹伟 .
中国专利 :CN203133239U ,2013-08-14
[10]
用于高低温冲击测试的装置 [P]. 
黄健平 ;
许进 ;
江明波 ;
周书浩 .
中国专利 :CN204718909U ,2015-10-21