一种采用高低温箱进行集成电路芯片的高低温测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201220626075.7

申请日：

2012-11-23

公开(公告)号：

CN203133239U

公开(公告)日：

2013-08-14

发明(设计)人：

詹伟

申请人：

申请人地址：

430074 湖北省武汉市东湖开发区汉关东工业园7-5栋4楼

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222

代理人：

鲁力

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-08-14	授权	授权
2017-01-11	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101697381404 IPC(主分类):G01R 31/28 专利号:ZL2012206260757 申请日:20121123 授权公告日:20130814 终止日期:20151123

共 50 条

[1]

集成电路高低温测试装置 [P].

金英杰 .

中国专利 :CN203275591U ,2013-11-06

[2]

一种集成电路高低温测试装置 [P].

秦岭 ;

尹子建 ;

周海峰 .

中国专利 :CN108152704A ,2018-06-12

[3]

高低温箱测试装置及高低温测试方法 [P].

甘源伟 ;

向艳 ;

袁烨 ;

李静 ;

潘立豹 .

中国专利 :CN106442602A ,2017-02-22

[4]

集成电路高低温测试方法 [P].

徐广文 ;

叶剑军 ;

张洪威 ;

徐感恩 ;

陆军奎 .

中国专利 :CN114791557A ,2022-07-26

[5]

高低温电池的高低温测试箱 [P].

秦传保 ;

汪桂云 ;

张承平 ;

宋永胜 ;

陆跃 .

中国专利 :CN106093790A ,2016-11-09

[6]

芯片高低温测试装置 [P].

刘善浩 ;

王玉龙 ;

顾良波 ;

罗斌 .

中国专利 :CN114545126A ,2022-05-27

[7]

高低温测试装置 [P].

邓福坪 ;

杨重云 .

中国专利 :CN211178789U ,2020-08-04

[8]

高低温测试装置 [P].

李超峰 .

中国专利 :CN213903379U ,2021-08-06

[9]

集成电路高低温测试分选机 [P].

梁大明 .

中国专利 :CN306004492S ,2020-08-21

[10]

霍尔集成电路在线高低温测试系统 [P].

陈志伟 ;

占志敏 ;

詹雅明 .

中国专利 :CN217846541U ,2022-11-18

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