半导体器件故障检测的装置及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201611217408.X

申请日：

2016-12-26

公开(公告)号：

CN106771955A

公开(公告)日：

2017-05-31

发明(设计)人：

李海龙王武华郑大鹏周党生廖荣辉

申请人：

申请人地址：

518055 广东省深圳市南山区西丽镇官龙村第二工业区5号厂房1-3层

IPC主分类号：

G01R3127

IPC分类号：

代理机构：

广东广和律师事务所 44298

代理人：

王峰

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-06-23	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101729324835 IPC(主分类):G01R 31/27 专利申请号:201611217408X 申请日:20161226
2017-05-31	公开	公开

共 50 条

[1]

半导体器件故障检测的装置 [P].

李海龙 ;

王武华 ;

郑大鹏 ;

周党生 ;

廖荣辉 .

中国专利 :CN206331081U ,2017-07-14

[2]

半导体器件故障检测方法及装置、变换器 [P].

李海龙 ;

王武华 ;

霍明 ;

郑大鹏 ;

周党生 .

中国专利 :CN110244207A ,2019-09-17

[3]

半导体器件故障检测方法及装置、变换器 [P].

李海龙 ;

王武华 ;

霍明 ;

郑大鹏 ;

周党生 .

中国专利 :CN110261752A ,2019-09-20

[4]

半导体器件故障检测装置以及变换器 [P].

李海龙 ;

王武华 ;

霍明 ;

郑大鹏 ;

周党生 .

中国专利 :CN208334558U ,2019-01-04

[5]

半导体器件故障检测装置以及变换器 [P].

李海龙 ;

王武华 ;

霍明 ;

郑大鹏 ;

周党生 .

中国专利 :CN208000357U ,2018-10-23

[6]

半导体器件及其故障检测方法 [P].

山口恭平 ;

川上大辅 ;

浜崎博幸 .

中国专利 :CN109840226A ,2019-06-04

[7]

半导体器件及其故障检测方法 [P].

山口恭平 ;

川上大辅 ;

浜崎博幸 .

日本专利 :CN109840226B ,2025-02-28

[8]

半导体器件及检测半导体器件损坏的方法 [P].

D·梅因霍尔德 .

中国专利 :CN104891420A ,2015-09-09

[9]

故障检测电路、半导体器件和故障检测方法 [P].

宫口哲 ;

河北大辅 ;

平野政明 ;

铃木翔吾 .

日本专利 :CN119691733A ,2025-03-25

[10]

半导体器件、半导体显示器件及半导体器件的制造方法 [P].

山崎舜平 ;

宫入秀和 .

中国专利 :CN101266982A ,2008-09-17

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