半导体器件及其故障检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201811418423.X

申请日：

2018-11-26

公开(公告)号：

CN109840226B

公开(公告)日：

2025-02-28

发明(设计)人：

山口恭平川上大辅浜崎博幸

申请人：

瑞萨电子株式会社

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G06F13/26

IPC分类号：

代理机构：

北京市金杜律师事务所 11256

代理人：

李辉

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-28	授权	授权

共 50 条

[1]

半导体器件及其故障检测方法 [P].

山口恭平 ;

川上大辅 ;

浜崎博幸 .

中国专利 :CN109840226A ,2019-06-04

[2]

故障检测电路、半导体器件和故障检测方法 [P].

宫口哲 ;

河北大辅 ;

平野政明 ;

铃木翔吾 .

日本专利 :CN119691733A ,2025-03-25

[3]

半导体器件及其检测方法 [P].

唐佛南 ;

吴东平 ;

曾瑞雪 ;

文宸宇 ;

汪澜 .

中国专利 :CN105353000B ,2016-02-24

[4]

半导体器件检测装置以及半导体器件检测方法 [P].

柳弘俊 ;

尹芸重 .

中国专利 :CN102778642B ,2012-11-14

[5]

半导体器件检测装置以及半导体器件检测方法 [P].

柳弘俊 ;

尹芸重 .

中国专利 :CN102214549A ,2011-10-12

[6]

半导体器件故障检测方法及装置、变换器 [P].

李海龙 ;

王武华 ;

霍明 ;

郑大鹏 ;

周党生 .

中国专利 :CN110261752A ,2019-09-20

[7]

半导体器件故障检测方法及装置、变换器 [P].

李海龙 ;

王武华 ;

霍明 ;

郑大鹏 ;

周党生 .

中国专利 :CN110244207A ,2019-09-17

[8]

一种半导体器件故障检测方法及相关设备 [P].

肖经 ;

朱新锋 ;

黄青春 ;

李志文 ;

张俊宇 ;

文迪 ;

黄前龙 .

中国专利 :CN114355133A ,2022-04-15

[9]

一种半导体器件故障检测方法及相关设备 [P].

肖经 ;

朱新锋 ;

黄青春 ;

李志文 ;

张俊宇 ;

文迪 ;

黄前龙 .

中国专利 :CN114355133B ,2025-10-31

[10]

半导体器件的电流检测方法和半导体器件 [P].

相马治 ;

上村圣 ;

天田健嗣 .

中国专利 :CN106053929A ,2016-10-26

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