一种晶片电阻检测装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201822219657.3

申请日：

2018-12-27

公开(公告)号：

CN209471179U

公开(公告)日：

2019-10-08

发明(设计)人：

刘立新

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市宝安区新安街道13区宝民一路宝通大厦2309房

IPC主分类号：

G01R2702

IPC分类号：

G01R104

代理机构：

北京盛凡智荣知识产权代理有限公司 11616

代理人：

王勇

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-10-08	授权	授权
2021-12-10	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 27/02 申请日:20181227 授权公告日:20191008 终止日期:20201227

共 50 条

[1]

一种晶片电阻率检测装置 [P].

孔凡伟 ;

段花山 ;

黄超阳 .

中国专利 :CN207457349U ,2018-06-05

[2]

一种晶片电阻检测装置 [P].

胡火明 .

中国专利 :CN212083545U ,2020-12-04

[3]

晶片电阻检测装置 [P].

李刚 ;

何志峰 .

中国专利 :CN106153630A ,2016-11-23

[4]

一种新型铝线电阻检测装置 [P].

张海鸥 .

中国专利 :CN210037972U ,2020-02-07

[5]

一种晶片电阻 [P].

刘立新 .

中国专利 :CN209118861U ,2019-07-16

[6]

一种电阻检测装置 [P].

贾玉秋 ;

陈雪梅 .

中国专利 :CN216117799U ,2022-03-22

[7]

一种电线电阻检测装置 [P].

廖超 ;

何锋 ;

吕俊红 .

中国专利 :CN220872563U ,2024-04-30

[8]

一种晶片检测装置 [P].

王均涛 ;

黄宗禹 ;

廖小明 .

中国专利 :CN216773183U ,2022-06-17

[9]

一种用于晶片电阻检测的定位装置 [P].

李永传 ;

徐明哲 ;

李刚 ;

陈海滨 ;

黄斌 ;

马新升 .

中国专利 :CN202815018U ,2013-03-20

[10]

一种用于晶片电阻检测的定位装置 [P].

金号春 ;

刘长青 ;

姚鹏 ;

周强 ;

夜荣 .

中国专利 :CN214174129U ,2021-09-10

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