学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
两点调制增益和线性度校正装置、方法及集成芯片
被引:0
申请号
:
CN202211609104.3
申请日
:
2022-12-15
公开(公告)号
:
CN115632920A
公开(公告)日
:
2023-01-20
发明(设计)人
:
周亚运
卢方明
潘攀
申请人
:
申请人地址
:
519000 广东省珠海市高新区唐家湾镇湾创路58号6层602-2、603室
IPC主分类号
:
H04L2712
IPC分类号
:
H04B1711
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
公开
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2023-01-20
公开
公开
2023-02-14
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H04L 27/12 申请日:20221215
共 50 条
[1]
具有增益校正的锁相环两点调制电路、发射机及校正方法
[P].
苏杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
苏杰
;
朱勇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
朱勇
;
徐祎喆
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
徐祎喆
.
中国专利
:CN113810048A
,2021-12-17
[2]
两点调制器及其控制方法、DAC增益校准方法及装置
[P].
吕洁洁
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吕洁洁
;
陈光胜
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈光胜
.
中国专利
:CN110474639A
,2019-11-19
[3]
两点调制锁相环电路及其增益校准方法、装置、介质
[P].
陈明辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
夏芯微电子(上海)有限公司
夏芯微电子(上海)有限公司
陈明辉
.
中国专利
:CN120357894A
,2025-07-22
[4]
一种可调节增益线性度的VCO以及基于该VCO的两点调制器
[P].
陈楠
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈楠
;
王陈銮
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王陈銮
;
林福江
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
林福江
.
中国专利
:CN102332912B
,2012-01-25
[5]
线性度校正装置与方法
[P].
郭士正
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
郭士正
.
中国专利
:CN1251477C
,2004-05-26
[6]
用于集成芯片的双线通信方法及装置、集成芯片
[P].
林敏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京紫光青藤微系统有限公司
北京紫光青藤微系统有限公司
林敏
;
董宇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京紫光青藤微系统有限公司
北京紫光青藤微系统有限公司
董宇
;
黄金煌
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京紫光青藤微系统有限公司
北京紫光青藤微系统有限公司
黄金煌
.
中国专利
:CN119719006A
,2025-03-28
[7]
一种两点调制发射机校准电路及校准方法
[P].
赵辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
赵辉
;
何国军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
何国军
;
曾军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
曾军
.
中国专利
:CN107968687A
,2018-04-27
[8]
两点调制发射机中高通通路数模转换器的增益校准方法
[P].
翁兆洋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
翁兆洋
;
姜汉钧
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
姜汉钧
;
董晶晶
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
董晶晶
;
杨超
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨超
;
李宇根
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李宇根
;
王志华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王志华
.
中国专利
:CN104767575B
,2015-07-08
[9]
一种相机线性度校正方法及装置
[P].
杨双
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
武汉精立电子技术有限公司
武汉精立电子技术有限公司
杨双
;
乐辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
武汉精立电子技术有限公司
武汉精立电子技术有限公司
乐辉
;
陈武
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
武汉精立电子技术有限公司
武汉精立电子技术有限公司
陈武
;
余广得
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
武汉精立电子技术有限公司
武汉精立电子技术有限公司
余广得
;
苗丹
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
武汉精立电子技术有限公司
武汉精立电子技术有限公司
苗丹
.
中国专利
:CN119071473A
,2024-12-03
[10]
集成电路芯片温度测试装置及方法
[P].
古炯钧
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
古炯钧
;
王楠
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王楠
;
周平
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
周平
.
中国专利
:CN101452048B
,2009-06-10
←
1
2
3
4
5
→