发光二极管平均发光强度的测量装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN02136269.6

申请日：

2002-07-25

公开(公告)号：

CN1395086A

公开(公告)日：

2003-02-05

发明(设计)人：

鲍超

申请人：

申请人地址：

310027浙江省杭州市西湖区玉古路20号

IPC主分类号：

G01J100

IPC分类号：

代理机构：

杭州求是专利事务所有限公司

代理人：

韩介梅

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2003-02-05	公开	公开
2003-04-30	实质审查的生效	实质审查的生效
2005-08-10	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回

共 50 条

[1]

发光二极管平均发光强度测试仪 [P].

鲍超 .

中国专利 :CN2556614Y ,2003-06-18

[2]

发光二极管发光强度测试仪 [P].

周哲 .

中国专利 :CN201540157U ,2010-08-04

[3]

用于维持发光二极管的发光强度的方法和系统 [P].

V·兹罗特尼科夫 ;

J·B·冈特 ;

J·科克 ;

G·伯曼 ;

V·K·伯格 .

中国专利 :CN102203689B ,2011-09-28

[4]

改善发光强度的发光二极管及其制备方法 [P].

姚振 ;

从颖 ;

张毓 ;

蔡和勋 .

中国专利 :CN119403317A ,2025-02-07

[5]

发光二极管测量装置 [P].

曾一士 ;

张添登 ;

李静粼 ;

郑智毓 ;

郑勗廷 .

中国专利 :CN102879180B ,2013-01-16

[6]

发光二极管、发光二极管发光效率和强度的调制方法 [P].

王中林 ;

杨青 .

中国专利 :CN103681979B ,2014-03-26

[7]

发光二极管发光装置 [P].

卓敬傑 .

中国专利 :CN101629709A ,2010-01-20

[8]

发光二极管发光装置 [P].

吴宪昌 ;

廖哲新 ;

欧春亨 .

中国专利 :CN106287608B ,2017-01-04

[9]

发光二极管发光装置 [P].

蔡明达 ;

张忠民 ;

徐智鹏 .

中国专利 :CN103904068A ,2014-07-02

[10]

发光二极管和包括发光二极管的发光二极管阵列 [P].

李建和 ;

崔炳均 .

中国专利 :CN107112394A ,2017-08-29

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