接触单元以及检查系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200580052033.X

申请日：

2005-11-10

公开(公告)号：

CN101317099B

公开(公告)日：

2008-12-03

发明(设计)人：

石川重树仁平崇

申请人：

申请人地址：

日本国神奈川县

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R3126

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司 11021

代理人：

汪惠民

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2012-06-27	授权	授权
2008-12-03	公开	公开
2009-01-28	实质审查的生效	实质审查的生效
2017-01-04	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101695960038 IPC(主分类):G01R 31/28 专利号:ZL200580052033X 申请日:20051110 授权公告日:20120627 终止日期:20151110

共 50 条

[1]

检查单元以及检查系统 [P].

库知文 .

中国专利 :CN210427645U ,2020-04-28

[2]

接触单元及检查系统 [P].

弓野诚 ;

上田阳一 .

中国专利 :CN101044407A ,2007-09-26

[3]

单元基板的检查系统以及检查方法 [P].

宫内孝 ;

宫崎健太郎 .

中国专利 :CN102411005B ,2012-04-11

[4]

电池单元的检查装置以及电池单元的检查系统 [P].

渡边友一 ;

村本英则 ;

光内健太 ;

工藤俊树 ;

高桥崇哉 .

中国专利 :CN110621177B ,2019-12-27

[5]

检查系统以及检查方法 [P].

三宅淳司 .

中国专利 :CN102169095B ,2011-08-31

[6]

检查系统以及检查方法 [P].

远藤久 .

中国专利 :CN106133515B ,2016-11-16

[7]

检查系统以及检查方法 [P].

池田泰之 .

中国专利 :CN115698681A ,2023-02-03

[8]

检查系统以及检查方法 [P].

小西显太朗 .

日本专利 :CN114365270B ,2025-08-12

[9]

检查系统以及检查方法 [P].

儿玉旭 ;

松本畅二 ;

田中朋阳 ;

佐藤直之 .

日本专利 :CN117897603A ,2024-04-16

[10]

检查系统以及检查方法 [P].

池田泰之 .

日本专利 :CN115698681B ,2025-07-11

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