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检查单元以及检查系统
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201920878815.8
申请日
:
2019-06-12
公开(公告)号
:
CN210427645U
公开(公告)日
:
2020-04-28
发明(设计)人
:
库知文
申请人
:
申请人地址
:
201203 上海市浦东新区盛夏路560号2幢1003室
IPC主分类号
:
G01R1067
IPC分类号
:
代理机构
:
北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人
:
陈伟;李辉
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-04-28
授权
授权
共 50 条
[1]
单元基板的检查系统以及检查方法
[P].
宫内孝
论文数:
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宫内孝
;
宫崎健太郎
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宫崎健太郎
.
中国专利
:CN102411005B
,2012-04-11
[2]
接触单元以及检查系统
[P].
石川重树
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石川重树
;
仁平崇
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仁平崇
.
中国专利
:CN101317099B
,2008-12-03
[3]
电池单元的检查装置以及电池单元的检查系统
[P].
渡边友一
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渡边友一
;
村本英则
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村本英则
;
光内健太
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光内健太
;
工藤俊树
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工藤俊树
;
高桥崇哉
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高桥崇哉
.
中国专利
:CN110621177B
,2019-12-27
[4]
检查系统的检查方法、以及检查系统
[P].
成川健一
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机构:
东京毅力科创株式会社
东京毅力科创株式会社
成川健一
.
日本专利
:CN117652016A
,2024-03-05
[5]
检查装置、检查系统以及检查方法
[P].
小口智
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小口智
;
久利龙平
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久利龙平
;
金井政史
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金井政史
.
中国专利
:CN110220922A
,2019-09-10
[6]
检查装置、检查系统以及检查方法
[P].
今堀翔也
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今堀翔也
.
中国专利
:CN114264928A
,2022-04-01
[7]
检查系统、检查装置以及检查方法
[P].
碓井隆
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碓井隆
;
高安俊贵
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高安俊贵
;
渡部一雄
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渡部一雄
;
大西敦郎
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大西敦郎
;
高桥博
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高桥博
;
砂押贵光
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砂押贵光
.
中国专利
:CN115107830A
,2022-09-27
[8]
检查装置、检查系统以及检查方法
[P].
冈本学
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机构:
爱斯佩克株式会社
爱斯佩克株式会社
冈本学
;
今堀翔也
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机构:
爱斯佩克株式会社
爱斯佩克株式会社
今堀翔也
.
日本专利
:CN112798924B
,2024-08-06
[9]
检查系统以及检查方法
[P].
三宅淳司
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三宅淳司
.
中国专利
:CN102169095B
,2011-08-31
[10]
检查系统以及检查方法
[P].
远藤久
论文数:
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远藤久
.
中国专利
:CN106133515B
,2016-11-16
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