检查单元以及检查系统

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201920878815.8
申请日
2019-06-12
公开(公告)号
CN210427645U
公开(公告)日
2020-04-28
发明(设计)人
库知文
申请人
申请人地址
201203 上海市浦东新区盛夏路560号2幢1003室
IPC主分类号
G01R1067
IPC分类号
代理机构
北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人
陈伟;李辉
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
单元基板的检查系统以及检查方法 [P]. 
宫内孝 ;
宫崎健太郎 .
中国专利 :CN102411005B ,2012-04-11
[2]
接触单元以及检查系统 [P]. 
石川重树 ;
仁平崇 .
中国专利 :CN101317099B ,2008-12-03
[3]
电池单元的检查装置以及电池单元的检查系统 [P]. 
渡边友一 ;
村本英则 ;
光内健太 ;
工藤俊树 ;
高桥崇哉 .
中国专利 :CN110621177B ,2019-12-27
[4]
检查系统的检查方法、以及检查系统 [P]. 
成川健一 .
日本专利 :CN117652016A ,2024-03-05
[5]
检查装置、检查系统以及检查方法 [P]. 
小口智 ;
久利龙平 ;
金井政史 .
中国专利 :CN110220922A ,2019-09-10
[6]
检查装置、检查系统以及检查方法 [P]. 
今堀翔也 .
中国专利 :CN114264928A ,2022-04-01
[7]
检查系统、检查装置以及检查方法 [P]. 
碓井隆 ;
高安俊贵 ;
渡部一雄 ;
大西敦郎 ;
高桥博 ;
砂押贵光 .
中国专利 :CN115107830A ,2022-09-27
[8]
检查装置、检查系统以及检查方法 [P]. 
冈本学 ;
今堀翔也 .
日本专利 :CN112798924B ,2024-08-06
[9]
检查系统以及检查方法 [P]. 
三宅淳司 .
中国专利 :CN102169095B ,2011-08-31
[10]
检查系统以及检查方法 [P]. 
远藤久 .
中国专利 :CN106133515B ,2016-11-16