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芯片测试模式的配置方法、装置、SOC芯片及电子设备

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202111567074.X
申请日：
2021-12-20
公开(公告)号：
CN114253784A
公开(公告)日：
2022-03-29
发明(设计)人：
邓维维 葛平 廖毅 张涌
申请人：
申请人地址：
201203 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区春晓路289号张江大厦20A
IPC主分类号：
G06F1122
IPC分类号：
G06F1136
代理机构：
成都维飞知识产权代理有限公司 51311
代理人：
张巧燕
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-03-29 公开 公开
2022-04-15 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/22 申请日:20211220
共 50 条
[1]
一种芯片老化补偿方法、装置、SOC芯片及电子设备 [P]. 
金军贵 ;
张书磊 .
中国专利 :CN114325315B ,2024-07-26
[2]
一种芯片老化补偿方法、装置、SOC芯片及电子设备 [P]. 
金军贵 ;
张书磊 .
中国专利 :CN114325315A ,2022-04-12
[3]
SOC芯片、针对SOC芯片的数据备份方法及电子设备 [P]. 
王嘉诚 ;
张少仲 ;
张栩 .
中国专利 :CN114721879B ,2022-07-08
[4]
芯片、芯片测试方法及电子设备 [P]. 
王毓千 ;
姚水音 ;
梁洪昌 ;
唐志敏 .
中国专利 :CN112805577A ,2021-05-14
[5]
芯片、芯片测试系统、方法及电子设备 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN120994483A ,2025-11-21
[6]
SoC芯片的验证方法和SoC芯片验证系统、电子设备 [P]. 
李远超 ;
蔡权雄 ;
牛昕宇 .
中国专利 :CN118734763A ,2024-10-01
[7]
芯片测试配置生成方法、测试方法、装置及电子设备 [P]. 
许荣峰 ;
林哲民 .
中国专利 :CN115598495A ,2023-01-13
[8]
芯片测试配置生成方法、测试方法、装置及电子设备 [P]. 
许荣峰 ;
林哲民 .
中国专利 :CN115598495B ,2024-01-30
[9]
芯片测试方法、装置及电子设备 [P]. 
张君宇 ;
刘璟 ;
吕杭炳 ;
张锋 ;
刘明 .
中国专利 :CN110441667A ,2019-11-12
[10]
SoC芯片的内置驱动电路、SoC芯片及用于SoC芯片的测试方法 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN118035021A ,2024-05-14
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