芯片测试配置生成方法、测试方法、装置及电子设备

被引：0

申请号：

CN202211130656.6

申请日：

2022-09-16

公开(公告)号：

CN115598495A

公开(公告)日：

2023-01-13

发明(设计)人：

许荣峰林哲民

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区高新南九道53号航空航天大厦2号楼718

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R313185

代理机构：

北京知帆远景知识产权代理有限公司 11890

代理人：

袁海波

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-01-13	公开	公开
2023-02-07	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20220916

共 50 条

[1]

芯片测试配置生成方法、测试方法、装置及电子设备 [P].

许荣峰 ;

林哲民 .

中国专利 :CN115598495B ,2024-01-30

[2]

芯片、芯片测试方法及电子设备 [P].

王毓千 ;

姚水音 ;

梁洪昌 ;

唐志敏 .

中国专利 :CN112805577A ,2021-05-14

[3]

芯片测试方法、装置及电子设备 [P].

张君宇 ;

刘璟 ;

吕杭炳 ;

张锋 ;

刘明 .

中国专利 :CN110441667A ,2019-11-12

[4]

芯片测试模式的配置方法、装置、SOC芯片及电子设备 [P].

邓维维 ;

葛平 ;

廖毅 ;

张涌 .

中国专利 :CN114253784A ,2022-03-29

[5]

芯片测试程序生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李超 .

中国专利 :CN119847843A ,2025-04-18

[6]

测试语料生成方法、装置及电子设备 [P].

宋雨 .

中国专利 :CN111488735A ,2020-08-04

[7]

测试语料生成方法、装置及电子设备 [P].

宋雨 .

中国专利 :CN111488463A ,2020-08-04

[8]

用于芯片测试的仿真数据生成方法及装置、电子设备 [P].

范庭墁 .

中国专利 :CN120469876A ,2025-08-12

[9]

芯片、芯片测试系统、方法及电子设备 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN120994483A ,2025-11-21

[10]

测试指令生成方法、芯片测试方法及装置 [P].

钱乐 ;

谢宇霆 ;

钱俊杰 ;

李治贤 ;

杨凯 ;

郭文平 .

中国专利 :CN119986341A ,2025-05-13

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