IPC分类号:
G01B702
G01D5249
G01D526
共 50 条
[1]
位移测量设备
[P].
中国专利 :CN111175777A ,2020-05-19 [2]
位移测量设备
[P].
中国专利 :CN204881429U ,2015-12-16 [3]
位移测量设备
[P].
山根规义
论文数: 0 引用数: 0
h-index: 0
机构:
株式会社基恩士
株式会社基恩士
山根规义
;
滨雄一郎
论文数: 0 引用数: 0
h-index: 0
机构:
株式会社基恩士
株式会社基恩士
滨雄一郎
.
日本专利 :CN111175777B ,2024-08-09 [4]
数字位移测量设备
[P].
中国专利 :CN103782136A ,2014-05-07 [5]
位移测量设备外壳
[P].
中国专利 :CN304256791S ,2017-08-25 [6]
位移测量设备及其位移测量方法和存储介质
[P].
藤原馨
论文数: 0 引用数: 0
h-index: 0
机构:
株式会社基恩士
株式会社基恩士
藤原馨
.
日本专利 :CN111175776B ,2024-08-13 [8]
多自由度位移测量设备和多自由度位移测量方法
[P].
加藤庆显
论文数: 0 引用数: 0
h-index: 0
机构:
株式会社三丰
株式会社三丰
加藤庆显
;
小野林季
论文数: 0 引用数: 0
h-index: 0
机构:
株式会社三丰
株式会社三丰
小野林季
;
田中骏丞
论文数: 0 引用数: 0
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机构:
株式会社三丰
株式会社三丰
田中骏丞
.
日本专利 :CN118043631A ,2024-05-14 [9]
一种位移测量设备
[P].
中国专利 :CN211317204U ,2020-08-21