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一种芯片功能测试装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202020820880.8
申请日
:
2020-05-18
公开(公告)号
:
CN212646894U
公开(公告)日
:
2021-03-02
发明(设计)人
:
郑江云
申请人
:
申请人地址
:
246011 安徽省安庆市集贤北路1318号
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-03-02
授权
授权
共 50 条
[1]
一种芯片功能测试装置
[P].
任根军
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
珠海市科正智能科技有限公司
珠海市科正智能科技有限公司
任根军
;
梁宏玮
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
珠海市科正智能科技有限公司
珠海市科正智能科技有限公司
梁宏玮
;
谢晓明
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
珠海市科正智能科技有限公司
珠海市科正智能科技有限公司
谢晓明
.
中国专利
:CN220367379U
,2024-01-19
[2]
芯片功能测试装置
[P].
刘长青
论文数:
0
引用数:
0
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0
刘长青
;
王华伟
论文数:
0
引用数:
0
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0
王华伟
.
中国专利
:CN212808519U
,2021-03-26
[3]
一种芯片测试装置
[P].
王兰松
论文数:
0
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0
机构:
浙江瑞锋电子科技有限公司
浙江瑞锋电子科技有限公司
王兰松
;
范启俊
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
浙江瑞锋电子科技有限公司
浙江瑞锋电子科技有限公司
范启俊
.
中国专利
:CN223413426U
,2025-10-03
[4]
一种芯片测试装置
[P].
刘晨
论文数:
0
引用数:
0
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0
刘晨
.
中国专利
:CN215986374U
,2022-03-08
[5]
一种芯片测试装置
[P].
陈兵录
论文数:
0
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0
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0
陈兵录
.
中国专利
:CN209486249U
,2019-10-11
[6]
一种芯片测试装置
[P].
向奕
论文数:
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向奕
;
吴静
论文数:
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0
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吴静
;
吴利
论文数:
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吴利
;
王萌
论文数:
0
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0
王萌
.
中国专利
:CN217360174U
,2022-09-02
[7]
一种芯片测试装置
[P].
李克贵
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市誉辰智能装备股份有限公司
深圳市誉辰智能装备股份有限公司
李克贵
;
何建军
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
深圳市誉辰智能装备股份有限公司
深圳市誉辰智能装备股份有限公司
何建军
;
杨飞瑶
论文数:
0
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0
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0
机构:
深圳市誉辰智能装备股份有限公司
深圳市誉辰智能装备股份有限公司
杨飞瑶
.
中国专利
:CN222762201U
,2025-04-15
[8]
一种芯片测试装置
[P].
王耀
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳智游者科技有限公司
深圳智游者科技有限公司
王耀
.
中国专利
:CN221351662U
,2024-07-16
[9]
一种芯片测试装置
[P].
陈佳英
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈佳英
.
中国专利
:CN204287409U
,2015-04-22
[10]
一种芯片测试装置
[P].
李尚成
论文数:
0
引用数:
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0
机构:
浙江星曜半导体有限公司
浙江星曜半导体有限公司
李尚成
;
高安明
论文数:
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0
机构:
浙江星曜半导体有限公司
浙江星曜半导体有限公司
高安明
;
姜伟
论文数:
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引用数:
0
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机构:
浙江星曜半导体有限公司
浙江星曜半导体有限公司
姜伟
.
中国专利
:CN220603638U
,2024-03-15
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