一种芯片功能测试装置

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专利类型
实用新型
申请号
CN202020820880.8
申请日
2020-05-18
公开(公告)号
CN212646894U
公开(公告)日
2021-03-02
发明(设计)人
郑江云
申请人
申请人地址
246011 安徽省安庆市集贤北路1318号
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种芯片功能测试装置 [P]. 
任根军 ;
梁宏玮 ;
谢晓明 .
中国专利 :CN220367379U ,2024-01-19
[2]
芯片功能测试装置 [P]. 
刘长青 ;
王华伟 .
中国专利 :CN212808519U ,2021-03-26
[3]
一种芯片测试装置 [P]. 
王兰松 ;
范启俊 .
中国专利 :CN223413426U ,2025-10-03
[4]
一种芯片测试装置 [P]. 
刘晨 .
中国专利 :CN215986374U ,2022-03-08
[5]
一种芯片测试装置 [P]. 
陈兵录 .
中国专利 :CN209486249U ,2019-10-11
[6]
一种芯片测试装置 [P]. 
向奕 ;
吴静 ;
吴利 ;
王萌 .
中国专利 :CN217360174U ,2022-09-02
[7]
一种芯片测试装置 [P]. 
李克贵 ;
何建军 ;
杨飞瑶 .
中国专利 :CN222762201U ,2025-04-15
[8]
一种芯片测试装置 [P]. 
王耀 .
中国专利 :CN221351662U ,2024-07-16
[9]
一种芯片测试装置 [P]. 
陈佳英 .
中国专利 :CN204287409U ,2015-04-22
[10]
一种芯片测试装置 [P]. 
李尚成 ;
高安明 ;
姜伟 .
中国专利 :CN220603638U ,2024-03-15