集成电路元件测试插座、插座基板、测试机台及其制造方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200710123205.9

申请日：

2007-06-29

公开(公告)号：

CN101334425A

公开(公告)日：

2008-12-31

发明(设计)人：

邹俊杰

申请人：

申请人地址：

台湾省新竹市公道五路二段81号

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

代理机构：

北京连和连知识产权代理有限公司

代理人：

包红健

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2009-02-25	实质审查的生效	实质审查的生效
2008-12-31	公开	公开
2011-03-23	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1603 号牌文件序号:101076731756 IPC(主分类):G01R 1/04 专利申请号:2007101232059 公开日:20081231

共 50 条

[1]

集成电路元件测试插座、插座基板、测试机及其制作方法 [P].

朱华正 ;

温进光 .

中国专利 :CN101363873A ,2009-02-11

[2]

同轴集成电路测试插座 [P].

R·莱斯尼克斯基 .

中国专利 :CN106483448A ,2017-03-08

[3]

一种集成电路元件测试插座及测试平台 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN107247163A ,2017-10-13

[4]

测试用集成电路插座 [P].

森阳一 ;

青木芳广 .

中国专利 :CN1226758A ,1999-08-25

[5]

集成电路测试用插座 [P].

洪坤铭 ;

莫志达 ;

杨国宾 .

中国专利 :CN2684418Y ,2005-03-09

[6]

具有防错装置的集成电路元件测试插座组 [P].

黄耀奎 .

中国专利 :CN2574253Y ,2003-09-17

[7]

集成电路元件测试设备及其测试方法 [P].

张久芳 .

中国专利 :CN101685133B ,2010-03-31

[8]

一种集成电路测试插座 [P].

R·马伊达 .

中国专利 :CN1236185A ,1999-11-24

[9]

新型集成电路测试机台下压装置 [P].

卢亮 .

中国专利 :CN222965265U ,2025-06-10

[10]

集成电路测试机 [P].

杨再林 ;

韦敏荣 ;

孔晓琳 ;

王英广 ;

李安平 .

中国专利 :CN306809249S ,2021-09-07

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