一种集成电路元件测试插座及测试平台

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201710442619.1

申请日：

2017-06-13

公开(公告)号：

CN107247163A

公开(公告)日：

2017-10-13

发明(设计)人：

不公告发明人

申请人：

申请人地址：

230000 安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦526室

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

G01R3128 H01R924 H01R922

代理机构：

北京市铸成律师事务所 11313

代理人：

张臻贤;由元

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-10-13	公开	公开
2017-11-10	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 1/04 申请日:20170613
2019-05-31	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01R 1/04 申请公布日:20171013
2018-10-26	专利申请权、专利权的转移	专利申请权的转移 IPC(主分类):G01R 1/04 登记生效日:20181009 变更事项:申请人变更前权利人:睿力集成电路有限公司变更后权利人:长鑫存储技术有限公司变更事项:地址变更前权利人:230000 安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦526室变更后权利人:230000 安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室

共 50 条

[1]

集成电路元件测试插座、插座基板、测试机及其制作方法 [P].

朱华正 ;

温进光 .

中国专利 :CN101363873A ,2009-02-11

[2]

集成电路元件测试插座、插座基板、测试机台及其制造方法 [P].

邹俊杰 .

中国专利 :CN101334425A ,2008-12-31

[3]

一种集成电路测试插座 [P].

R·马伊达 .

中国专利 :CN1236185A ,1999-11-24

[4]

集成电路元件测试设备及其测试方法 [P].

张久芳 .

中国专利 :CN101685133B ,2010-03-31

[5]

同轴集成电路测试插座 [P].

R·莱斯尼克斯基 .

中国专利 :CN106483448A ,2017-03-08

[6]

集成电路元件测试装置及测试方法 [P].

罗鹏飞 ;

刘兴 ;

王晨 .

中国专利 :CN110031748A ,2019-07-19

[7]

具有防错装置的集成电路元件测试插座组 [P].

黄耀奎 .

中国专利 :CN2574253Y ,2003-09-17

[8]

一种集成电路多工位测试平台及集成电路测试方法 [P].

陆敏敏 .

中国专利 :CN113092985A ,2021-07-09

[9]

测试用集成电路插座 [P].

森阳一 ;

青木芳广 .

中国专利 :CN1226758A ,1999-08-25

[10]

集成电路测试用插座 [P].

洪坤铭 ;

莫志达 ;

杨国宾 .

中国专利 :CN2684418Y ,2005-03-09

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