一种器件性能测试夹具

被引:0
申请号
CN202222711139.X
申请日
2022-10-14
公开(公告)号
CN218470819U
公开(公告)日
2023-02-10
发明(设计)人
龚晓奇
申请人
申请人地址
430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷三路777号移动终端产业园7号楼1-4层(自贸区武汉片区)
IPC主分类号
G01R104
IPC分类号
G01R3128
代理机构
武汉智正诚专利代理事务所(普通合伙) 42278
代理人
郭翠
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种光器件测试装置及测试夹具 [P]. 
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宋小平 .
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[2]
一种同轴型传导干扰防护器件性能测试夹具 [P]. 
秦锋 ;
崔志同 ;
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[3]
微带器件测试夹具 [P]. 
丁敬垒 ;
闫欢 ;
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[4]
封装器件测试夹具 [P]. 
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[5]
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[6]
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曾繁区 ;
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[7]
一种同轴型传导干扰防护器件性能测试夹具 [P]. 
秦锋 ;
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[8]
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张刚 ;
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[9]
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衡军 ;
林辉 .
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[10]
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张家鹏 ;
潘利兵 ;
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