薄膜温差电材料电阻率测试系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200810153570.9

申请日：

2008-11-27

公开(公告)号：

CN101413972A

公开(公告)日：

2009-04-22

发明(设计)人：

王为李菲晖李晋楼汪洋

申请人：

申请人地址：

300072天津市南开区卫津路92号天津大学

IPC主分类号：

G01R2702

IPC分类号：

G01R2708

代理机构：

天津市北洋有限责任专利代理事务所

代理人：

王丽

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2009-06-17	实质审查的生效	实质审查的生效
2021-11-05	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 27/02 申请日:20081127 授权公告日:20110511 终止日期:20201127
2009-04-22	公开	公开
2011-05-11	授权	授权

共 50 条

[1]

用于电阻率测试的测试箱及电阻率测试系统 [P].

王旭日 ;

刘静 ;

吴江雪 ;

孙洋洋 ;

杨红新 .

中国专利 :CN216747891U ,2022-06-14

[2]

薄膜温差电材料赛贝克系数测试系统及方法 [P].

王为 ;

李菲晖 ;

李晋楼 .

中国专利 :CN101413908B ,2009-04-22

[3]

薄膜温差电材料电导率测试装置 [P].

张丽丽 ;

刘锐 ;

刘静榕 ;

郭金娟 .

中国专利 :CN105301363A ,2016-02-03

[4]

半导体薄膜材料低温电阻率测试设备 [P].

曹先存 ;

彭震宇 ;

吕衍秋 ;

姚官生 ;

张亮 ;

沈祥伟 ;

王理文 ;

李龙 .

中国专利 :CN106507948B ,2014-03-05

[5]

在线式电阻率测试系统 [P].

吴晓春 ;

张进峰 ;

谢尘 .

中国专利 :CN105044463A ,2015-11-11

[6]

一种温差电材料塞贝克系数及电阻率的测量装置 [P].

胡志宇 ;

张自强 ;

曾志刚 ;

张向鹏 ;

杨晓云 ;

王志冲 .

中国专利 :CN203858219U ,2014-10-01

[7]

电阻率测试仪 [P].

沈阳 ;

孙友奇 .

中国专利 :CN308701082S ,2024-06-25

[8]

电阻率测试夹具 [P].

刁庶 ;

何传玺 ;

淳少恒 .

中国专利 :CN220508979U ,2024-02-20

[9]

一种全自动电缆内屏蔽电阻率测试系统及测试方法 [P].

苏孙夫 ;

周文华 ;

黄志强 ;

张景慧 ;

李学锐 ;

叶俊龙 ;

季勇 ;

洪元特 ;

刘旭 ;

陈均贤 ;

卢剑锋 ;

梁雪琼 .

中国专利 :CN117849457A ,2024-04-09

[10]

电阻率介电测试夹具 [P].

陈甜甜 .

中国专利 :CN307525865S ,2022-09-02

← 1 2 3 4 5 →