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射频电路产品老化测试装置
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202020875160.1
申请日：
2020-05-22
公开(公告)号：
CN212301764U
公开(公告)日：
2021-01-05
发明(设计)人：
朱笑鶤
郑彦磊
申请人：
申请人地址：
201203 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区碧波路500号105室
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
代理机构：
上海欣创专利商标事务所 31217
代理人：
包宇霆
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-01-05 | 授权 | 授权 |