产品老化测试装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201310035148.4
申请日
2013-01-25
公开(公告)号
CN103105555B
公开(公告)日
2013-05-15
发明(设计)人
吴中开 温云涛
申请人
申请人地址
364000 福建省龙岩市上杭县工业园区二期第5栋
IPC主分类号
G01R3100
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
专利权的终止
国省代码
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共 50 条
[1]
产品老化测试装置 [P]. 
吴中开 ;
王良成 .
中国专利 :CN203101547U ,2013-07-31
[2]
产品老化测试装置 [P]. 
刘正谊 ;
沈佳俊 .
中国专利 :CN218003468U ,2022-12-09
[3]
翻盖产品老化测试装置 [P]. 
蔡振 ;
严文年 ;
张永举 ;
喻成 .
中国专利 :CN111722034A ,2020-09-29
[4]
翻盖产品老化测试装置 [P]. 
蔡振 ;
严文年 ;
张永举 ;
喻成 .
中国专利 :CN212622857U ,2021-02-26
[5]
一种产品老化测试装置 [P]. 
黄长裕 ;
樊领 ;
胡建兵 ;
韩顺添 ;
凌远强 ;
黄水权 ;
何立发 ;
周应东 ;
覃曦 ;
黄达鸿 .
中国专利 :CN221007744U ,2024-05-24
[6]
双波长产品老化测试装置 [P]. 
胡帅 ;
张磊 .
中国专利 :CN223400929U ,2025-09-30
[7]
射频电路产品老化测试装置 [P]. 
朱笑鶤 ;
郑彦磊 .
中国专利 :CN212301764U ,2021-01-05
[8]
模块产品的老化测试装置 [P]. 
宋家林 .
中国专利 :CN209446697U ,2019-09-27
[9]
浴霸产品老化测试装置 [P]. 
严斌 .
中国专利 :CN203084091U ,2013-07-24
[10]
变频器老化测试装置 [P]. 
王会华 ;
纪正达 ;
钱匡 ;
胡新宇 .
中国专利 :CN1779471A ,2006-05-31