翻盖产品老化测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010514584.X

申请日：

2020-06-08

公开(公告)号：

CN111722034A

公开(公告)日：

2020-09-29

发明(设计)人：

蔡振严文年张永举喻成

申请人：

申请人地址：

215000 江苏省苏州市太湖国家旅游度假区光福镇福利村102号

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

G01M1300 G01B1126

代理机构：

广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙) 44288

代理人：

王忠浩

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-09-29	公开	公开
2020-10-27	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/00 申请日:20200608

共 50 条

[1]

翻盖产品老化测试装置 [P].

蔡振 ;

严文年 ;

张永举 ;

喻成 .

中国专利 :CN212622857U ,2021-02-26

[2]

一种翻盖产品老化测试装置 [P].

唐雄华 .

中国专利 :CN218481596U ,2023-02-14

[3]

老化测试装置 [P].

伍启安 ;

蔡文超 .

中国专利 :CN214473834U ,2021-10-22

[4]

产品老化测试装置 [P].

吴中开 ;

王良成 .

中国专利 :CN203101547U ,2013-07-31

[5]

产品老化测试装置 [P].

刘正谊 ;

沈佳俊 .

中国专利 :CN218003468U ,2022-12-09

[6]

产品老化测试装置 [P].

吴中开 ;

温云涛 .

中国专利 :CN103105555B ,2013-05-15

[7]

一种产品老化测试装置 [P].

胡亚楠 ;

龙强 ;

宋超 .

中国专利 :CN221405316U ,2024-07-23

[8]

双波长产品老化测试装置 [P].

胡帅 ;

张磊 .

中国专利 :CN223400929U ,2025-09-30

[9]

射频电路产品老化测试装置 [P].

朱笑鶤 ;

郑彦磊 .

中国专利 :CN212301764U ,2021-01-05

[10]

模块产品的老化测试装置 [P].

宋家林 .

中国专利 :CN209446697U ,2019-09-27

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