一种用于测试半导体芯片导通的测试工装

被引:0
申请号
CN202210157398.4
申请日
2022-02-21
公开(公告)号
CN114578208A
公开(公告)日
2022-06-03
发明(设计)人
王瑶炜 邱乾胜
申请人
申请人地址
314400 浙江省嘉兴市海宁市海昌街道双联路128号科创大楼A座1217室(自主申报)
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
深圳泛航知识产权代理事务所(普通合伙) 44867
代理人
邓爱军
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
一种功率半导体芯片测试工装 [P]. 
周斌 ;
董建方 ;
张爱华 .
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[2]
一种功率半导体芯片测试工装 [P]. 
张瑾 ;
仇志杰 ;
温旭辉 .
中国专利 :CN103852707B ,2014-06-11
[3]
双极性半导体芯片的测试工装 [P]. 
王汛 .
中国专利 :CN202534638U ,2012-11-14
[4]
一种芯片电路导通测试工装 [P]. 
黄本涛 ;
宋成龙 ;
程传博 ;
吴声亮 .
中国专利 :CN214044244U ,2021-08-24
[5]
半导体制冷芯片测试工装 [P]. 
黄永华 ;
钱波 ;
李皇 .
中国专利 :CN114062429A ,2022-02-18
[6]
半导体制冷芯片测试工装 [P]. 
黄永华 ;
钱波 ;
李皇 .
中国专利 :CN114062429B ,2025-01-07
[7]
一种半导体测试工装台 [P]. 
郑才忠 ;
陈海峰 .
中国专利 :CN223400936U ,2025-09-30
[8]
半导体芯片测试工具 [P]. 
周刚 .
中国专利 :CN212083605U ,2020-12-04
[9]
一种半导体集成芯片通用测试工装 [P]. 
胡冬 ;
吴学立 .
中国专利 :CN114859215B ,2022-08-05
[10]
一种用于半导体芯片的测试工具 [P]. 
徐心白 .
中国专利 :CN215813203U ,2022-02-11