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一种用于测试半导体芯片导通的测试工装
被引:0
申请号
:
CN202210157398.4
申请日
:
2022-02-21
公开(公告)号
:
CN114578208A
公开(公告)日
:
2022-06-03
发明(设计)人
:
王瑶炜
邱乾胜
申请人
:
申请人地址
:
314400 浙江省嘉兴市海宁市海昌街道双联路128号科创大楼A座1217室(自主申报)
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
代理机构
:
深圳泛航知识产权代理事务所(普通合伙) 44867
代理人
:
邓爱军
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-06-21
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20220221
2022-06-03
公开
公开
共 50 条
[1]
一种功率半导体芯片测试工装
[P].
周斌
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
河南悦芯集成电路有限公司
河南悦芯集成电路有限公司
周斌
;
董建方
论文数:
0
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0
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机构:
河南悦芯集成电路有限公司
河南悦芯集成电路有限公司
董建方
;
张爱华
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
河南悦芯集成电路有限公司
河南悦芯集成电路有限公司
张爱华
.
中国专利
:CN220552948U
,2024-03-01
[2]
一种功率半导体芯片测试工装
[P].
张瑾
论文数:
0
引用数:
0
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0
张瑾
;
仇志杰
论文数:
0
引用数:
0
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0
仇志杰
;
温旭辉
论文数:
0
引用数:
0
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0
温旭辉
.
中国专利
:CN103852707B
,2014-06-11
[3]
双极性半导体芯片的测试工装
[P].
王汛
论文数:
0
引用数:
0
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0
王汛
.
中国专利
:CN202534638U
,2012-11-14
[4]
一种芯片电路导通测试工装
[P].
黄本涛
论文数:
0
引用数:
0
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0
黄本涛
;
宋成龙
论文数:
0
引用数:
0
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宋成龙
;
程传博
论文数:
0
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0
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0
程传博
;
吴声亮
论文数:
0
引用数:
0
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0
吴声亮
.
中国专利
:CN214044244U
,2021-08-24
[5]
半导体制冷芯片测试工装
[P].
黄永华
论文数:
0
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0
黄永华
;
钱波
论文数:
0
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钱波
;
李皇
论文数:
0
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0
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0
李皇
.
中国专利
:CN114062429A
,2022-02-18
[6]
半导体制冷芯片测试工装
[P].
黄永华
论文数:
0
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机构:
苏州丁冬科技有限公司
苏州丁冬科技有限公司
黄永华
;
钱波
论文数:
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机构:
苏州丁冬科技有限公司
苏州丁冬科技有限公司
钱波
;
李皇
论文数:
0
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0
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机构:
苏州丁冬科技有限公司
苏州丁冬科技有限公司
李皇
.
中国专利
:CN114062429B
,2025-01-07
[7]
一种半导体测试工装台
[P].
郑才忠
论文数:
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机构:
深圳力钛科技术有限公司
深圳力钛科技术有限公司
郑才忠
;
陈海峰
论文数:
0
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0
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0
机构:
深圳力钛科技术有限公司
深圳力钛科技术有限公司
陈海峰
.
中国专利
:CN223400936U
,2025-09-30
[8]
半导体芯片测试工具
[P].
周刚
论文数:
0
引用数:
0
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0
周刚
.
中国专利
:CN212083605U
,2020-12-04
[9]
一种半导体集成芯片通用测试工装
[P].
胡冬
论文数:
0
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0
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胡冬
;
吴学立
论文数:
0
引用数:
0
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0
吴学立
.
中国专利
:CN114859215B
,2022-08-05
[10]
一种用于半导体芯片的测试工具
[P].
徐心白
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
徐心白
.
中国专利
:CN215813203U
,2022-02-11
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