一种测试方法、装置、设备及存储介质

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申请号
CN202210377077.5
申请日
2022-04-11
公开(公告)号
CN114691517A
公开(公告)日
2022-07-01
发明(设计)人
许力强
申请人
申请人地址
100089 北京市海淀区上地十街10号百度大厦2层
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
代理机构
北京乐知新创知识产权代理事务所(普通合伙) 11734
代理人
江宇
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
一种测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
许力强 .
中国专利 :CN114691517B ,2025-08-29
[2]
一种测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
兰珣 .
中国专利 :CN113934637A ,2022-01-14
[3]
测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
何林江 .
中国专利 :CN115454810A ,2022-12-09
[4]
一种界面测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
陈宗帅 .
中国专利 :CN120821667A ,2025-10-21
[5]
特效测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
母召 ;
孙帅 ;
吴翠萍 .
中国专利 :CN117573503A ,2024-02-20
[6]
一种测试资料处理方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
倪丙庆 ;
张康 ;
杜蕴璇 ;
翟忆蒙 .
中国专利 :CN113626409A ,2021-11-09
[7]
一种性能测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
常国栋 .
中国专利 :CN115480970A ,2022-12-16
[8]
一种测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
郁志强 .
中国专利 :CN117472734A ,2024-01-30
[9]
测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
朱开宇 .
中国专利 :CN120849286A ,2025-10-28
[10]
一种耗时测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
张佳利 ;
乔红斌 .
中国专利 :CN115314420A ,2022-11-08