测试方法、装置、设备及存储介质

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申请号
CN202110636917.0
申请日
2021-06-08
公开(公告)号
CN115454810A
公开(公告)日
2022-12-09
发明(设计)人
何林江
申请人
申请人地址
518057 广东省深圳市南山区高新区科技中一路腾讯大厦35层
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
代理机构
广州三环专利商标代理有限公司 44202
代理人
熊永强;贾允
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
一种测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
兰珣 .
中国专利 :CN113934637A ,2022-01-14
[2]
特效测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
母召 ;
孙帅 ;
吴翠萍 .
中国专利 :CN117573503A ,2024-02-20
[3]
车辆测试方法、装置、设备、存储介质及产品 [P]. 
胡太群 .
中国专利 :CN117975749A ,2024-05-03
[4]
测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
朱开宇 .
中国专利 :CN120849286A ,2025-10-28
[5]
存储设备的测试方法和装置、存储介质及电子设备 [P]. 
刘聖福 ;
吴丰硕 ;
刘福东 .
中国专利 :CN120762984B ,2025-11-21
[6]
存储设备的测试方法和装置、存储介质及电子设备 [P]. 
刘聖福 ;
吴丰硕 ;
刘福东 .
中国专利 :CN120762984A ,2025-10-10
[7]
测试管理方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
张东宇 .
中国专利 :CN117609058A ,2024-02-27
[8]
一种测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
许力强 .
中国专利 :CN114691517A ,2022-07-01
[9]
应用测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
杨帆 .
中国专利 :CN120994534A ,2025-11-21
[10]
产品测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
赵振超 .
中国专利 :CN113252665B ,2021-08-13