增强IGBT可靠性的器件制造方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201110309661.9

申请日：

2011-10-13

公开(公告)号：

CN102737973A

公开(公告)日：

2012-10-17

发明(设计)人：

王海军

申请人：

申请人地址：

201206 上海市浦东新区川桥路1188号

IPC主分类号：

H01L2128

IPC分类号：

H01L21331

代理机构：

上海浦一知识产权代理有限公司 31211

代理人：

孙大为

法律状态：

专利申请权、专利权的转移

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-02-05	专利申请权、专利权的转移	专利申请权的转移号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101688691729 IPC(主分类):H01L 21/28 专利申请号:2011103096619 变更事项:申请人变更前权利人:上海华虹NEC电子有限公司变更后权利人:上海华虹宏力半导体制造有限公司变更事项:地址变更前权利人:201206 上海市浦东新区川桥路1188号变更后权利人:201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号登记生效日:20140107
2012-10-17	公开	公开
2012-12-12	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101363525297 IPC(主分类):H01L 21/28 专利申请号:2011103096619 申请日:20111013
2015-04-08	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1603 号牌文件序号:101713312577 IPC(主分类):H01L 21/28 专利申请号:2011103096619 申请公布日:20121017

共 50 条

[1]

增强沟槽型IGBT可靠性器件制造方法 [P].

王海军 .

中国专利 :CN102768948A ,2012-11-07

[2]

一种高可靠性IGBT及其制造方法 [P].

陈万军 ;

肖紫嫣 ;

刘超 ;

周琪钧 ;

谯彬 ;

张波 .

中国专利 :CN109904225A ,2019-06-18

[3]

一种IGBT器件低频噪声可靠性评价方法 [P].

陈晓娟 ;

吴洁 ;

宫玉琳 ;

曲畅 ;

孙越 .

中国专利 :CN108614204A ,2018-10-02

[4]

一种IGBT可靠性测试系统 [P].

沈培锋 ;

李国杰 ;

杨丰源 ;

李勇 ;

蓝叶锋 ;

郭有强 ;

杨光 ;

刘欢 ;

王凌燕 ;

郑思源 ;

武建文 .

中国专利 :CN207557413U ,2018-06-29

[5]

IGBT器件的制造方法及IGBT器件 [P].

曹功勋 .

中国专利 :CN118231251A ,2024-06-21

[6]

具有优化可靠性终端结构的功率器件及制造方法 [P].

万一民 ;

王修中 ;

王晓军 ;

马庆海 ;

陈融 ;

鲍海鸣 .

中国专利 :CN117174592B ,2024-03-26

[7]

IGBT器件及制造方法 [P].

曹功勋 ;

仵嘉 ;

张敏 .

中国专利 :CN113451398A ,2021-09-28

[8]

IGBT器件的制造方法 [P].

肖胜安 ;

王海军 ;

刘坤 .

中国专利 :CN102420133A ,2012-04-18

[9]

一种IGBT可靠性测试的控制方法、装置及系统 [P].

相春蕾 ;

董志意 ;

姜梅 ;

赵鹏 ;

范秋洲 .

中国专利 :CN107991597A ,2018-05-04

[10]

一种基于同轴电阻的IGBT可靠性测试方法及系统 [P].

沈培锋 ;

李国杰 ;

杨丰源 ;

李勇 ;

蓝叶锋 ;

郭有强 ;

杨光 ;

刘欢 ;

王凌燕 ;

郑思源 ;

武建文 .

中国专利 :CN108051721A ,2018-05-18

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