大口径精密光学元件表面缺陷检测的旋转照明方法及装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200910102400.2

申请日：

2009-09-03

公开(公告)号：

CN101644657A

公开(公告)日：

2010-02-10

发明(设计)人：

杨甬英高鑫刘东

申请人：

申请人地址：

310027浙江省杭州市浙大路38号

IPC主分类号：

G01N2101

IPC分类号：

G01N2188

代理机构：

杭州求是专利事务所有限公司

代理人：

张法高

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2011-03-23	授权	授权
2022-08-12	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 21/01 申请日:20090903 授权公告日:20110323 终止日期:20210903
2013-06-12	专利实施许可合同备案的生效、变更及注销	专利实施许可合同备案的生效号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101592605228 IPC(主分类):G01N 21/01 专利申请号:2009101024002 专利号:ZL2009101024002 合同备案号:2013330000079 让与人:浙江大学受让人:杭州浙大三色仪器有限公司发明名称:大口径精密光学元件表面缺陷检测的旋转照明方法及装置申请日:20090903 申请公布日:20100210 授权公告日:20110323 许可种类:普通许可备案日期:20130419
2010-02-10	公开	公开
2010-04-14	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101000901238 IPC(主分类):G01N 21/01 专利申请号:2009101024002 申请日:20090903

共 50 条

[1]

大口径光学元件表面缺陷的检测分类方法 [P].

陈坚 ;

吴周令 ;

黄明 .

中国专利 :CN103105400B ,2013-05-15

[2]

大口径光学元件亚表面缺陷的检测装置 [P].

邓燕 ;

许乔 ;

柴立群 ;

石琦凯 .

中国专利 :CN201589753U ,2010-09-22

[3]

大口径光学元件表面缺陷的检测分类装置 [P].

陈坚 ;

吴周令 ;

黄明 .

中国专利 :CN203069524U ,2013-07-17

[4]

大口径光学元件表面缺陷增长分析方法、系统、装置 [P].

陶显 ;

张大朋 ;

马文治 ;

侯伟 ;

徐德 .

中国专利 :CN110031471A ,2019-07-19

[5]

一种大口径光学元件表面缺陷检测装置及方法 [P].

陈晓义 ;

王璞 ;

眭越 ;

李成尧 ;

达争尚 .

中国专利 :CN119643586A ,2025-03-18

[6]

一种大口径光学元件表面缺陷检测装置及方法 [P].

陈晓义 ;

王璞 ;

眭越 ;

李成尧 ;

达争尚 .

中国专利 :CN119643586B ,2025-06-13

[7]

一种大口径精密光学元件表面洁净处理方法 [P].

毛卫平 ;

张晓燕 ;

章付华 ;

毛建宇 .

中国专利 :CN108906830A ,2018-11-30

[8]

大口径光学元件清洗装置及大口径光学元件的清洗方法 [P].

王震 ;

许乔 ;

卫耀伟 ;

王健 ;

李树刚 ;

刘民才 ;

张飞 ;

唐明 ;

吴倩 ;

罗晋 ;

罗振飞 ;

周永勤 ;

程建国 ;

白友民 .

中国专利 :CN111330877A ,2020-06-26

[9]

大口径光学元件表面损伤检测装置和方法 [P].

郭亚晶 ;

朱宝强 ;

唐顺兴 ;

姜秀青 ;

刘亚群 ;

陈欣 .

中国专利 :CN105044131B ,2015-11-11

[10]

大口径光学元件的检测方法及系统 [P].

孙林 ;

贾松涛 ;

庞晨涛 .

中国专利 :CN117249912B ,2024-02-13

← 1 2 3 4 5 →