用于校准微纳米坐标测量系统测量误差的标准装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010113943.0

申请日：

2020-02-24

公开(公告)号：

CN111238426A

公开(公告)日：

2020-06-05

发明(设计)人：

周森徐健钟华刘彤

申请人：

申请人地址：

401121 重庆市渝北区杨柳北路1号

IPC主分类号：

G01B2100

IPC分类号：

代理机构：

重庆博凯知识产权代理有限公司 50212

代理人：

周玉玲

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-06-30	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 21/00 申请日:20200224
2020-06-05	公开	公开
2021-06-15	授权	授权

共 50 条

[1]

一种角锥棱镜坐标测量误差的补偿装置 [P].

朱国力 ;

潘明华 ;

邵涛 .

中国专利 :CN101922932A ,2010-12-22

[2]

摄影测量系统动态位移测量误差校准装置及方法 [P].

孙增玉 ;

刘柯 ;

高越 ;

刘华 ;

袁媛 .

中国专利 :CN108132058A ,2018-06-08

[3]

用于校准坐标测量仪的标准器 [P].

V.格雷夫兹 ;

U.霍尔兹 ;

N.哈弗坎普 ;

U.蔡瑟 .

中国专利 :CN111380494B ,2020-07-07

[4]

三坐标测量机的坐标测量系统 [P].

邰大勇 ;

王斌 ;

赵磊 .

中国专利 :CN109539986A ,2019-03-29

[5]

测定坐标测量仪中测量误差的方法和坐标测量仪计量器 [P].

松田次郎 ;

浅沼进 ;

柴田政典 .

中国专利 :CN1207528C ,2002-09-11

[6]

一种用于微纳米坐标测量的多测头测量方法与装置 [P].

李源 ;

陈欣 ;

雷李华 ;

王丽华 .

中国专利 :CN101793499B ,2010-08-04

[7]

相控阵天线测量误差修正方法、装置和测量系统 [P].

郑楷 ;

唐凯 ;

李碧雄 ;

胡洋 ;

何飞阳 ;

罗烜 ;

郭凡玉 .

中国专利 :CN112104431A ,2020-12-18

[8]

坐标指示设备和用于测量其输入位置的坐标测量设备 [P].

金昺稙 .

中国专利 :CN103389804B ,2013-11-13

[9]

双目视觉位移测量误差的测算方法及测量系统 [P].

刘检华 ;

宁汝新 ;

王小寅 .

中国专利 :CN101900531B ,2010-12-01

[10]

坐标指示装置和用于其输入位置的坐标测量装置 [P].

金官炯 .

中国专利 :CN103389805B ,2013-11-13

← 1 2 3 4 5 →