摄影测量系统动态位移测量误差校准装置及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201611089001.3

申请日：

2016-11-30

公开(公告)号：

CN108132058A

公开(公告)日：

2018-06-08

发明(设计)人：

孙增玉刘柯高越刘华袁媛

申请人：

申请人地址：

100076 北京市丰台区南大红门路一号

IPC主分类号：

G01C2500

IPC分类号：

代理机构：

核工业专利中心 11007

代理人：

吕岩甲

法律状态：

发明专利申请公布后的驳回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-02-25	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01C 25/00 申请公布日:20180608
2018-06-08	公开	公开
2018-07-03	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01C 25/00 申请日:20161130

共 50 条

[1]

一种标定摄影测量系统动态测量误差的装置及使用方法 [P].

孙增玉 ;

梁雅军 ;

宋金城 ;

刘柯 .

中国专利 :CN104567919A ,2015-04-29

[2]

双目视觉位移测量误差的测算方法及测量系统 [P].

刘检华 ;

宁汝新 ;

王小寅 .

中国专利 :CN101900531B ,2010-12-01

[3]

校准装置误差测量系统、方法及测试系统校准方法、系统 [P].

丁超 ;

王珩 .

中国专利 :CN114280519A ,2022-04-05

[4]

校准装置误差测量系统、方法及测试系统校准方法、系统 [P].

丁超 ;

王珩 .

中国专利 :CN114280519B ,2024-09-03

[5]

用于校准微纳米坐标测量系统测量误差的标准装置 [P].

周森 ;

徐健 ;

钟华 ;

刘彤 .

中国专利 :CN111238426A ,2020-06-05

[6]

一种动态遥感摄影测量系统及测量方法 [P].

张华鹏 ;

姚俊启 ;

张哲伟 .

中国专利 :CN113959413A ,2022-01-21

[7]

校准装置、校准方法、光学装置、摄影装置、投影装置、测量系统以及测量方法 [P].

松泽聪明 .

中国专利 :CN107003109B ,2017-08-01

[8]

一种激光位移测量系统校准装置及校准方法 [P].

项勇 ;

郝定武 ;

郭萃堃 .

中国专利 :CN109827506A ,2019-05-31

[9]

位移测量装置、测量系统及位移测量方法 [P].

近藤智则 ;

铃木祐太 ;

的场贤一 ;

金谷义宏 .

中国专利 :CN109557545A ,2019-04-02

[10]

一种工业摄影测量系统校准装置 [P].

孙彦锋 ;

范斌斌 ;

牛鹏磊 ;

周颖熙 ;

余庆滨 ;

何海坚 ;

杨尚维 ;

黄耀坤 .

中国专利 :CN222013147U ,2024-11-15

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