一种电芯外观缺陷检测设备、方法

被引：0

申请号：

CN202211152161.3

申请日：

2022-09-21

公开(公告)号：

CN115639200A

公开(公告)日：

2023-01-24

发明(设计)人：

张俊峰叶长春王士对

申请人：

申请人地址：

510000 广东省广州市番禺区石基镇金山村华创动漫产业园B10栋

IPC主分类号：

G01N2188

IPC分类号：

G01N3500 B25J1508 B25J1902

代理机构：

广州容大知识产权代理事务所(普通合伙) 44326

代理人：

胡亦豪

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-02-14	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/88 申请日:20220921
2023-01-24	公开	公开

共 50 条

[1]

一种电芯外观检测设备 [P].

吕晶晶 ;

戚继先 ;

程晓磊 ;

李小康 ;

华扬 ;

唐艺 .

中国专利 :CN119406784A ,2025-02-11

[2]

一种PCB板外观缺陷检测设备 [P].

张俊峰 ;

王士对 ;

李保权 .

中国专利 :CN118788608A ,2024-10-18

[3]

一种叠片电芯外观缺陷检测设备 [P].

张俊峰 ;

叶长春 ;

王士对 .

中国专利 :CN115684010A ,2023-02-03

[4]

一种叠片电芯外观缺陷检测设备 [P].

张俊峰 ;

叶长春 ;

王士对 .

中国专利 :CN115684010B ,2024-05-28

[5]

一种电芯外观检测机及电芯外观检测设备 [P].

陈荣强 ;

莫春伟 .

中国专利 :CN216082514U ,2022-03-18

[6]

电芯外观检测设备 [P].

朱文兵 ;

罗时帅 ;

钱曙光 ;

汪炉生 ;

柳洪哲 ;

柳云鸿 ;

钱根 ;

蒋朝伟 .

中国专利 :CN117324289A ,2024-01-02

[7]

电芯外观检测设备 [P].

王玉祥 ;

王伟俊 ;

程堂灿 ;

俞迪民 .

中国专利 :CN222152962U ,2024-12-13

[8]

电芯外观检测设备 [P].

李发冬 ;

谢英 ;

陈强 ;

严家峻 ;

盛辉 ;

周学慧 ;

杨勇 ;

张凯 .

中国专利 :CN117420134A ,2024-01-19

[9]

电芯外观检测设备 [P].

朱文兵 ;

罗时帅 ;

钱曙光 ;

汪炉生 ;

柳洪哲 ;

柳云鸿 ;

钱根 ;

蒋朝伟 .

中国专利 :CN117324289B ,2024-03-08

[10]

一种外观缺陷检测方法和外观缺陷检测设备 [P].

李玉惠 ;

靳习永 ;

李会富 ;

谢学智 ;

张富强 ;

闫华锋 .

中国专利 :CN117347368A ,2024-01-05

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