一种半导体器件老炼测试夹具

被引：0

申请号：

CN202211233219.7

申请日：

2022-10-10

公开(公告)号：

CN115308452A

公开(公告)日：

2022-11-08

发明(设计)人：

王迅夏泽平叶峰叶剑军张洪威

申请人：

申请人地址：

311100 浙江省杭州市余杭区闲林街道闲兴路25号13幢

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

代理机构：

四川中代知识产权代理有限公司 51358

代理人：

叶任海

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-11-08	公开	公开
2022-11-25	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 1/04 申请日:20221010

共 50 条

[1]

半导体器件测试夹具 [P].

邱显羣 ;

钱淼 ;

王韦勋 .

中国专利 :CN222636204U ,2025-03-18

[2]

电子元器件老炼测试夹具 [P].

何朝勇 .

中国专利 :CN214067224U ,2021-08-27

[3]

电子元器件老炼测试夹具 [P].

陈林 ;

杨彦林 ;

鲁彬 ;

姚本林 .

中国专利 :CN203502441U ,2014-03-26

[4]

一种半导体器件测试夹具 [P].

王军 .

中国专利 :CN215375528U ,2021-12-31

[5]

一种光电器件老炼测试夹具 [P].

唐林浩 .

中国专利 :CN112098689A ,2020-12-18

[6]

一种电子元器件老炼测试夹具 [P].

章文炳 .

中国专利 :CN211528572U ,2020-09-18

[7]

一种电子元器件老炼测试夹具 [P].

倪荣国 .

中国专利 :CN213423241U ,2021-06-11

[8]

一种电子元器件老炼测试夹具 [P].

罗小庆 .

中国专利 :CN109030884A ,2018-12-18

[9]

一种电子元器件老炼测试夹具 [P].

张斌 ;

谌辉 ;

王佳 .

中国专利 :CN213457007U ,2021-06-15

[10]

一种电子元器件老炼测试夹具 [P].

张琦 ;

贺养芬 ;

奚望 ;

陈苗 ;

员佩 ;

王洁 ;

杨雪 ;

王瑶 ;

王佳乐 ;

郭旺 .

中国专利 :CN223727871U ,2025-12-26

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