基于多维数据融合思想的亚表面缺陷定量化检测方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201610573168.0
申请日
2016-07-20
公开(公告)号
CN106124614B
公开(公告)日
2016-11-16
发明(设计)人
王章权 刘半藤 张瑞 任条娟 陈友荣
申请人
申请人地址
312028 浙江省绍兴市柯桥区杨汛桥镇江夏路2016号
IPC主分类号
G01N2790
IPC分类号
G01N2904
代理机构
杭州斯可睿专利事务所有限公司 33241
代理人
王利强
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种基于PEC/UT数据融合的亚表面缺陷深度检测方法及系统 [P]. 
周莹 ;
刘半藤 ;
周煊勇 ;
施佳椰 ;
金合丽 ;
陈友荣 .
中国专利 :CN112485325A ,2021-03-12
[2]
一种基于PEC/UT数据融合的亚表面缺陷深度检测方法及系统 [P]. 
周莹 ;
刘半藤 ;
周煊勇 ;
施佳椰 ;
金合丽 ;
陈友荣 .
中国专利 :CN112485325B ,2024-04-09
[3]
亚表面缺陷的检测方法 [P]. 
张伟 ;
朱健强 .
中国专利 :CN101135654A ,2008-03-05
[4]
一种基于超声TOFD法的近表面缺陷定量化检测方法 [P]. 
迟大钊 ;
刚铁 ;
姚英学 ;
周安 ;
袁媛 .
中国专利 :CN101806777B ,2010-08-18
[5]
亚表面缺陷的检测装置 [P]. 
冯胜 ;
翟中生 ;
王选择 ;
谢博娅 .
中国专利 :CN113008796A ,2021-06-22
[6]
透明样品的亚表面缺陷检测方法 [P]. 
刘立拓 ;
宋晓娇 ;
余晓娅 ;
王盛阳 ;
姜行健 ;
周维虎 .
中国专利 :CN113720861B ,2024-11-05
[7]
透明样品的亚表面缺陷检测方法 [P]. 
刘立拓 ;
宋晓娇 ;
余晓娅 ;
王盛阳 ;
姜行健 ;
周维虎 .
中国专利 :CN113720861A ,2021-11-30
[8]
光学玻璃亚表面缺陷的检测方法 [P]. 
王威 ;
冯素雅 ;
陈伟 ;
胡丽丽 .
中国专利 :CN103308529A ,2013-09-18
[9]
基于多尺度特征融合的工业表面缺陷检测方法 [P]. 
谷刘涛 ;
张雨杰 ;
范江涛 .
中国专利 :CN120948475A ,2025-11-14
[10]
基于量子点的光学元件亚表面缺陷深度检测方法 [P]. 
王春阳 ;
崔亚娜 ;
刘雪莲 ;
田爱玲 ;
王红军 .
中国专利 :CN110879229B ,2020-03-13