基于量子点的光学元件亚表面缺陷深度检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910981294.3

申请日：

2019-10-16

公开(公告)号：

CN110879229B

公开(公告)日：

2020-03-13

发明(设计)人：

王春阳崔亚娜刘雪莲田爱玲王红军

申请人：

申请人地址：

130022 吉林省长春市朝阳区卫星路7089号

IPC主分类号：

G01N2191

IPC分类号：

G01N2164 G01B1124 G01B1122

代理机构：

西安新思维专利商标事务所有限公司 61114

代理人：

黄秦芳

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-04-07	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/91 申请日:20191016
2020-03-13	公开	公开
2022-09-27	授权	授权

共 50 条

[1]

基于量子点光漂白的光学元件亚表面缺陷检测方法及系统 [P].

刘雪莲 ;

王春阳 ;

崔亚娜 ;

肖博 ;

吴亚杰 ;

李容 .

中国专利 :CN114965396B ,2024-05-10

[2]

一种光学元件亚表面缺陷深度信息的检测装置及检测方法 [P].

田爱玲 ;

邱啸天 ;

张英鸽 ;

王红军 ;

王春阳 ;

刘雪莲 ;

刘丙才 ;

朱学亮 .

中国专利 :CN110686614A ,2020-01-14

[3]

光学元件表面形貌及亚表面缺陷信息的检测方法及其装置 [P].

王红军 ;

吴琳 ;

田爱玲 ;

刘卫国 ;

王大森 ;

朱学亮 ;

刘丙才 .

中国专利 :CN109916909A ,2019-06-21

[4]

光学元件亚表面缺陷的检测装置 [P].

李亚国 ;

雷向阳 ;

郑楠 ;

邓燕 ;

谢瑞清 ;

陈贤华 ;

王健 ;

许乔 .

中国专利 :CN201697882U ,2011-01-05

[5]

基于量子点荧光效应的光学元件亚表面缺陷三维重构方法 [P].

刘雪莲 ;

肖博 ;

王春阳 ;

李田田 ;

崔亚娜 .

中国专利 :CN114460053A ,2022-05-10

[6]

光学元件亚表面缺陷的检测装置及其方法 [P].

李亚国 ;

雷向阳 ;

郑楠 ;

邓燕 ;

谢瑞清 ;

陈贤华 ;

王健 ;

许乔 .

中国专利 :CN101819163A ,2010-09-01

[7]

一种光学元件亚表面缺陷快速检测装置和检测方法 [P].

周晓燕 ;

刘红婕 ;

黄进 ;

王凤蕊 ;

刘东 ;

孙焕宇 ;

王狮凌 ;

杨李茗 ;

黎维华 .

中国专利 :CN111208064A ,2020-05-29

[8]

光学元件亚表面缺陷深度和密度同步检测的装置及方法 [P].

田爱玲 ;

何礼 ;

王红军 ;

朱学亮 ;

刘丙才 ;

茹佳玉 .

中国专利 :CN114136978A ,2022-03-04

[9]

光学元件亚表面缺陷的多通道原位检测装置及检测方法 [P].

张霖 ;

许乔 ;

石振东 ;

陈坚 ;

马骅 ;

马可 ;

白金玺 ;

李杰 ;

柴立群 ;

赵建华 ;

黄明 .

中国专利 :CN111060516A ,2020-04-24

[10]

一种光学元件亚表面缺陷检测方法及检测系统 [P].

刘勇 .

中国专利 :CN104568982B ,2015-04-29

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