基于量子点的光学元件亚表面缺陷深度检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910981294.3

申请日：

2019-10-16

公开(公告)号：

CN110879229B

公开(公告)日：

2020-03-13

发明(设计)人：

王春阳崔亚娜刘雪莲田爱玲王红军

申请人：

申请人地址：

130022 吉林省长春市朝阳区卫星路7089号

IPC主分类号：

G01N2191

IPC分类号：

G01N2164 G01B1124 G01B1122

代理机构：

西安新思维专利商标事务所有限公司 61114

代理人：

黄秦芳

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-04-07	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/91 申请日:20191016
2020-03-13	公开	公开
2022-09-27	授权	授权

共 50 条

[41]

一种基于本征点缺陷的熔石英光学元件亚表面损伤检测方法 [P].

王春阳 ;

刘雪莲 ;

王营霞 ;

李瀚岳 ;

肖博 ;

谢达 ;

吴亚杰 .

中国专利 :CN119394984A ,2025-02-07

[42]

基于深度学习的钢材表面缺陷检测方法 [P].

韩阳 ;

同磊 ;

禹晶 ;

肖创柏 .

中国专利 :CN117670844A ,2024-03-08

[43]

基于深度学习的法兰表面缺陷检测方法 [P].

王绍龙 ;

强震乐 .

中国专利 :CN118982522A ,2024-11-19

[44]

基于深度学习算法的表面缺陷检测方法 [P].

董航程 ;

刘国栋 ;

刘炳国 ;

高卓 ;

黄颖妍 ;

廖敬骁 .

中国专利 :CN115205275B ,2025-05-23

[45]

一种基于深度学习的光学表面缺陷数据检测方法 [P].

郄军建 ;

李兵 ;

冀永志 ;

张元勇 ;

李星强 .

中国专利 :CN121190433A ,2025-12-23

[46]

大口径光学元件表面缺陷的检测分类装置 [P].

陈坚 ;

吴周令 ;

黄明 .

中国专利 :CN203069524U ,2013-07-17

[47]

亚表面缺陷的检测装置 [P].

冯胜 ;

翟中生 ;

王选择 ;

谢博娅 .

中国专利 :CN113008796A ,2021-06-22

[48]

一种基于PEC/UT数据融合的亚表面缺陷深度检测方法及系统 [P].

周莹 ;

刘半藤 ;

周煊勇 ;

施佳椰 ;

金合丽 ;

陈友荣 .

中国专利 :CN112485325A ,2021-03-12

[49]

一种基于PEC/UT数据融合的亚表面缺陷深度检测方法及系统 [P].

周莹 ;

刘半藤 ;

周煊勇 ;

施佳椰 ;

金合丽 ;

陈友荣 .

中国专利 :CN112485325B ,2024-04-09

[50]

光学元件的缺陷检测方法和缺陷检测装置 [P].

栗本英治 ;

南功治 .

中国专利 :CN1815206A ,2006-08-09

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