基于量子点的光学元件亚表面缺陷深度检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910981294.3

申请日：

2019-10-16

公开(公告)号：

CN110879229B

公开(公告)日：

2020-03-13

发明(设计)人：

王春阳崔亚娜刘雪莲田爱玲王红军

申请人：

申请人地址：

130022 吉林省长春市朝阳区卫星路7089号

IPC主分类号：

G01N2191

IPC分类号：

G01N2164 G01B1124 G01B1122

代理机构：

西安新思维专利商标事务所有限公司 61114

代理人：

黄秦芳

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-04-07	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/91 申请日:20191016
2020-03-13	公开	公开
2022-09-27	授权	授权

共 50 条

[31]

透明样品的亚表面缺陷检测方法 [P].

刘立拓 ;

宋晓娇 ;

余晓娅 ;

王盛阳 ;

姜行健 ;

周维虎 .

中国专利 :CN113720861A ,2021-11-30

[32]

基于深度信息的表面缺陷检测方法和系统 [P].

朱勇建 ;

谢润林 .

中国专利 :CN113192015A ,2021-07-30

[33]

一种光学玻璃亚表面缺陷检测方法 [P].

张春雷 ;

马占龙 ;

王绍治 ;

刘健 ;

隋永新 ;

杨怀江 .

中国专利 :CN104089963B ,2014-10-08

[34]

亚表面缺陷检测系统及方法 [P].

廖常锐 ;

汪发美 ;

王义平 .

中国专利 :CN118111994A ,2024-05-31

[35]

平面光学元件亚表面损伤检测方法 [P].

李平 ;

金滩 ;

刘安民 ;

陈思羽 ;

吴远志 .

中国专利 :CN108515460A ,2018-09-11

[36]

光学元件表面缺陷的检测方法、装置及电子设备 [P].

崔世君 ;

王建成 ;

胥洁浩 ;

金玲 ;

赵俊瑞 ;

韩雪 .

中国专利 :CN114565552B ,2025-09-09

[37]

光学元件表面缺陷的检测方法、装置及电子设备 [P].

崔世君 ;

王建成 ;

胥洁浩 ;

金玲 ;

赵俊瑞 ;

韩雪 .

中国专利 :CN114565552A ,2022-05-31

[38]

高次曲面光学元件表面缺陷的定量检测方法 [P].

杨甬英 ;

吴凡 ;

李晨 ;

张毅晖 ;

柴慧婷 ;

闫凯 ;

周林 .

中国专利 :CN106018414A ,2016-10-12

[39]

透明光学元件表面缺陷信息检测装置及检测方法 [P].

邵伟 ;

张英鸽 ;

马婧怡 ;

高瑞鹏 ;

千勃兴 ;

曾强 .

中国专利 :CN118501180A ,2024-08-16

[40]

一种基于荧光寿命数据的光学元件表面缺陷检测方法 [P].

刘东 ;

胡逍遥 ;

刘钰波 .

中国专利 :CN117952953A ,2024-04-30

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