基于量子点的光学元件亚表面缺陷深度检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910981294.3

申请日：

2019-10-16

公开(公告)号：

CN110879229B

公开(公告)日：

2020-03-13

发明(设计)人：

王春阳崔亚娜刘雪莲田爱玲王红军

申请人：

申请人地址：

130022 吉林省长春市朝阳区卫星路7089号

IPC主分类号：

G01N2191

IPC分类号：

G01N2164 G01B1124 G01B1122

代理机构：

西安新思维专利商标事务所有限公司 61114

代理人：

黄秦芳

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-04-07	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/91 申请日:20191016
2020-03-13	公开	公开
2022-09-27	授权	授权

共 50 条

[21]

基于迭代相位恢复算法的光学元件表面缺陷深度检测方法及系统 [P].

程鸿 ;

胡子敬 ;

余保华 ;

张天一 ;

张芬 .

中国专利 :CN120823151A ,2025-10-21

[22]

快速三维探测光学元件亚表面缺陷的检测装置 [P].

刘红婕 ;

王凤蕊 ;

耿峰 ;

叶鑫 ;

黄进 ;

孙来喜 ;

黎维华 ;

罗青 ;

李青芝 .

中国专利 :CN206348270U ,2017-07-21

[23]

光学元件表面及亚表面缺陷检测红外锁相成像方法及装置 [P].

吴周令 ;

陈坚 ;

黄明 .

中国专利 :CN103149217A ,2013-06-12

[24]

一种光学元件表面与亚表面缺陷的分类提取方法 [P].

刘东 ;

孙焕宇 ;

王狮凌 ;

胡晓波 ;

黄梦辉 ;

卢岸 .

中国专利 :CN112581424A ,2021-03-30

[25]

一种利用荧光增强法检测光学元件亚表面缺陷的方法 [P].

周晓燕 ;

黄进 ;

刘红婕 ;

王凤蕊 ;

杨李茗 ;

石兆华 ;

邵婷 ;

孙来喜 ;

叶鑫 .

中国专利 :CN111122594A ,2020-05-08

[26]

一种可同时检测光学元件表面和亚表面缺陷的装置及方法 [P].

孙安玉 ;

李智宏 ;

居冰峰 ;

王传勇 ;

杨筱钰 ;

孙泽青 ;

杜慧林 .

中国专利 :CN109668838B ,2019-04-23

[27]

透明光学元件表面缺陷的检测装置 [P].

陈坚 ;

吴周令 ;

吴令奇 ;

黄明 .

中国专利 :CN203069531U ,2013-07-17

[28]

大口径光学元件表面缺陷的检测分类方法 [P].

陈坚 ;

吴周令 ;

黄明 .

中国专利 :CN103105400B ,2013-05-15

[29]

光学元件表面及亚表面缺陷检测红外锁相成像装置 [P].

吴周令 ;

陈坚 ;

黄明 .

中国专利 :CN203101283U ,2013-07-31

[30]

透明样品的亚表面缺陷检测方法 [P].

刘立拓 ;

宋晓娇 ;

余晓娅 ;

王盛阳 ;

姜行健 ;

周维虎 .

中国专利 :CN113720861B ,2024-11-05

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